[發明專利]一種基于輻射源方式的絕緣材料的測試方法和裝置

有效

• 申請號: 201510089035.1
• 申請日: 2015-02-27
• 公開（公告）號: CN104678177B
• 公開（公告）日: 2017-09-01
• 發明（設計）人: 陳樂生;葉連慧;裘揆
• 申請（專利權）人: 上海和伍復合材料有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于輻射源方式的絕緣材料的測試方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

①采用伺服電機控制動觸頭的運動速度和方向，通過MCU控制器設置伺服電機運動方向、速度，帶動動觸頭的運動，從而達到動、靜觸頭開啟閉合的目的；在MCU控制器中設定觸頭材料的接觸頻率、撥碼開關編號與絕緣材料對應關系；

②設定輻射源幅值大小、恒溫環境，啟動測試；

③在MCU控制器中設定動靜觸頭表面接觸電阻檢測頻率，當動靜觸頭接觸次數到達要求時，MCU控制器中發出一個信號給接觸電阻測量電路，接觸電阻測量電路通過四端子法測量動靜觸頭材料間的接觸電阻，經過放大濾波后，將得到的信號傳送至MCU控制器的A/D轉換模塊轉換為數字量；

④MCU控制器調用故障檢測算法函數進行判斷，當接觸電阻值連續5次大于設定值時，認定絕緣材料失效，記錄下絕緣材料種類、試驗時間、接觸電阻值、試驗條件；更換絕緣材料，改變撥碼開關值，重新開始試驗，循環往復，直至所有絕緣材料完成試驗。

2.根據權利要求1所述的一種基于輻射源方式的絕緣材料的測試方法，其特征在于，所述方法采用密閉測試箱，所述的輻射源、絕緣材料、觸頭材料以及電觸頭的支架均位于密閉測試箱中，密閉測試箱保證了絕緣材料的測試環境是恒溫的。

3.一種用于上述任一項權利要求所述方法的基于輻射源方式的絕緣材料的測試裝置，其特征在于，所述裝置包括：

用于模擬真實環境中的電火花的輻射源；

用于電觸頭接觸或分離的伺服電機；

用于伺服電機的控制部件；

用于測量接觸電阻的接觸電阻測量電路；

用于整個裝置的MCU控制器；其中：

MCU控制器發出信號給用于伺服電機的控制部件，控制所述伺服電機的運動時間、速度和方向，MCU控制器按照設定好的檢測接觸電阻的頻率，發送信號至接觸電阻測量電路，開啟接觸電阻檢測，并將檢測信號返回至MCU控制器保存。

4.根據權利要求3所述的基于輻射源方式的絕緣材料的測試裝置，其特征在于，所述裝置進一步包括密閉測試箱，所述的輻射源、被測量的絕緣材料、觸頭材料以及電觸頭的支架均位于密閉測試箱中，密閉測試箱保證了絕緣材料的測試環境是恒溫的。

5.根據權利要求4所述的基于輻射源方式的絕緣材料的測試裝置，其特征在于，所述的密閉測試箱內放置有溫度控制器，以保證絕緣材料檢測是在恒溫下進行的電氣性能檢測。

6.根據權利要求3所述的基于輻射源方式的絕緣材料的測試裝置，其特征在于，所述用于伺服電機的控制部件采用伺服電機驅動器。

7.根據權利要求3所述的基于輻射源方式的絕緣材料的測試裝置，其特征在于，所述的接觸電阻測量電路的輸出信號連接放大濾波電路信號輸入端，放大濾波電路的輸出端連接于MCU控制器。

8.根據權利要求3-7任一項所述的基于輻射源方式的絕緣材料的測試裝置，其特征在于，所述的MCU控制器中設有撥碼開關，當更換絕緣材料時，改變撥碼開關值，一種絕緣材料對應一個撥碼開關值。

9.根據權利要求3-7任一項所述的基于輻射源方式的絕緣材料的測試裝置，其特征在于，所述的MCU控制器內存儲下每次測量的接觸電阻，得到同一種絕緣材料在不同溫度下，接觸電阻隨時間的變化；和/或得到不同絕緣材料在相同溫度下，接觸電阻隨時間的變化。