[發(fā)明專利]一種具有功率優(yōu)化器的光伏組件的EL測試方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510087416.6
• 申請日: 2015-02-25
• 公開（公告）號: CN104660167A
• 公開（公告）日: 2015-05-27
• 發(fā)明（設計）人: 劉克銘;榮丹丹;倪健雄;韓帥;孫仲剛
• 申請（專利權）人: 英利能源（中國）有限公司;英利集團有限公司;保定天威英利新能源有限公司;河北流云新能源科技有限公司
• 主分類號: H02S50/15
• 分類號: H02S50/15
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權代理有限公司 11227
• 代理人: 王寶筠

技術領域

本發(fā)明涉及光伏組件測試技術領域，尤其涉及一種具有功率優(yōu)化器的光伏組件的EL測試方法。

背景技術

目前，功率優(yōu)化器開始大規(guī)模應用于太陽能光伏系統(tǒng)中，其目的是解決光伏組串輸出的“木桶效應”，即光伏組串中最差的光伏組件決定整個光伏系統(tǒng)的發(fā)電量。所述功率優(yōu)化器本質上是一個直流到直流的電流控制降壓/升壓轉換器，即根據(jù)阻抗匹配原理來調(diào)整每個光伏組件的輸出電壓和電流，使得組串中部分組件即使受到了不利因素(如制造公差、陰影遮擋、組件污染、組件老化等)的影響，也能使組件以最大的功率輸出，從而提升光伏系統(tǒng)的整體收益率。

目前，功率優(yōu)化器面向單個組件應用，無論是以集成芯片的形式層壓在組件中，還是嵌在接線盒內(nèi)連接于組件外，安裝有功率優(yōu)化器的光伏組件在工業(yè)化生產(chǎn)的EL(缺陷檢測)測試工序中均存在極大的風險。

發(fā)明內(nèi)容

為解決上述技術問題，本發(fā)明實施例提供了一種具有功率優(yōu)化器的光伏組件的EL測試方法，以降低安裝有功率優(yōu)化器的光伏組件在工業(yè)化生產(chǎn)的EL測試工序中的風險。

為解決上述問題，本發(fā)明實施例提供了如下技術方案：

一種具有功率優(yōu)化器的光伏組件的EL測試方法，包括：

步驟1：電連接電源、EL測試儀和參考組件；

步驟2：在標準測試條件下，打開并調(diào)節(jié)所述EL測試儀，直至獲取所述參考組件的色界分明、層次清晰的圖像；

步驟3：將所述參考組件替換為待測組件，并在所述待測組件與所述EL測試儀之間電連接限流器；

步驟4：打開所述EL測試儀，獲取并保存所述待測組件的圖像；

其中，所述參考組件與所述待測組件具有相同尺寸和數(shù)量的電池片，且標有其短路電流。

優(yōu)選的，打開并調(diào)節(jié)所述EL測試儀，直至獲取所述參考組件的色界分明、層次清晰的圖像包括：

步驟201：打開所述EL測試儀，調(diào)節(jié)所述EL測試儀的輸出電流至預設電流；

步驟202：調(diào)節(jié)所述EL測試儀，獲取所述參考組件的圖像；

步驟203：判斷所獲取的圖像是否清晰，若不清晰，則繼續(xù)調(diào)節(jié)所述EL測試儀，直至獲取所述參考組件的圖像為色界分明、層次清晰的圖像。

優(yōu)選的，打開所述EL測試儀，調(diào)節(jié)所述EL測試儀的輸出電流至預設電流包括：

打開所述EL測試儀，判斷所述EL測試儀的當前輸出電流是否為預設電流；

如果所述EL測試儀的當前輸出電流為預設電流，則直接執(zhí)行步驟202；

如果所述EL測試儀的當前輸出電流不是預設電流，則調(diào)節(jié)所述EL測試儀，直至所述EL測試儀的輸出電流為預設電流，再執(zhí)行步驟202。

優(yōu)選的，所述預設電流與所述參考組件短路電流之間的偏差范圍為【-5％，5％】。

優(yōu)選的，該方法還包括：

步驟5：判斷待測組件是否均已測試完畢，如果沒有，用待測組件替換已測組件，重復步驟4；如果均已測試完畢，則關閉所述EL測試儀和電源，結束測試。

優(yōu)選的，所述標準測試條件包括：輻照度為1000W·m^-2、電池溫度為25℃、GB/T?6495.3的標準太陽光譜輻照度分布。

優(yōu)選的，所述限流器包括多個防浪涌保護器。

與現(xiàn)有技術相比，上述技術方案具有以下優(yōu)點：

本發(fā)明實施例所提供的具有功率優(yōu)化器的光伏組件的EL測試方法，包括：步驟1：電連接電源、EL測試儀和參考組件；步驟2：在標準測試條件下，打開并調(diào)節(jié)所述EL測試儀，直至獲取所述參考組件的色界分明、層次清晰的圖像；步驟3：將所述參考組件替換為待測組件，并在所述待測組件與所述EL測試儀之間電連接限流器；步驟4：打開所述EL測試儀，獲取并保存所述待測組件的圖像；其中，所述參考組件與所述待測組件具有相同尺寸和數(shù)量的電池片，且標有其短路電流。

由此可見，本發(fā)明實施例所提供的測試方法，先利用參考組件調(diào)節(jié)所述EL測試儀，以避免利用所述EL測試儀測試待測組件時，所述EL測試儀的輸出電流不合適，導致待測組件被損壞的現(xiàn)象，而且，本發(fā)明實施例所提供的測試方法，在所述待測組件與所述EL測試儀之間增加了限流器，從而避免了熱插拔過程中，由于浪涌電流的產(chǎn)生，而對待測組件造成損壞的現(xiàn)象。

附圖說明