[發明專利]一種查詢數據的方法和裝置

有效

• 申請號: 201510085627.6
• 申請日: 2015-02-16
• 公開（公告）號: CN104679858B
• 公開（公告）日: 2018-10-09
• 發明（設計）人: 佟強;李健
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G06F17/30
• 分類號: G06F17/30
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 馮艷蓮

1.一種查詢數據的方法，其特征在于，包括：

接收包括查詢條件和查詢精度的查詢指令；

確定滿足所述查詢條件的數據分區；

在所述數據分區中確定出與所述查詢精度對應的數據子分區；

查詢所述數據子分區中的數據，獲得查詢結果；

其中，所述數據子分區包括高精度子分區、低精度子分區，在所述數據分區中確定出與所述查詢精度對應的數據子分區，具體包括：

當所述查詢精度低于或等于所述低精度子分區的精度時，確定所述低精度子分區為所述數據子分區；或

當所述查詢精度高于所述低精度子分區的精度時，確定所述高精度子分區為所述數據子分區；或

當所述查詢精度高于所述低精度子分區的精度時，確定所述低精度子分區和所述高精度子分區為所述數據子分區。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在接收包括查詢條件和查詢精度的查詢指令之前，還包括：

接收多個原始數據；

根據所述多個原始數據的統計參數，確定每個原始數據對應的分區，所述分區包括所述數據分區；

將每個分區的原始數據分為低精度數據和高精度數據；

將所述每個分區的低精度數據存儲在對應分區的低精度子分區中，所述每個分區的高精度數據存儲在對應分區的高精度子分區中。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，將每個分區的原始數據分為低精度數據和高精度數據，具體包括：

對所述每個分區的原始數據執行旋轉門SDT壓縮算法，獲得不可被壓縮的原始數據；

將所述不可被壓縮的原始數據作為所述低精度數據；

將所述多個原始數據作為高精度數據；或

在各個不可被壓縮的原始數據之間進行線性插值；

獲得各個線性插值與對應的原始數據之間的偏差數據；

將所述偏差數據作為所述高精度數據。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，當將所述偏差數據作為所述高精度數據，且所述低精度子分區和所述高精度子分區為所述數據子分區時，查詢所述數據子分區中的數據，獲得查詢結果，具體包括：

讀取所述低精度子分區中的所述不可被壓縮的原始數據；

在各個所述不可被壓縮的原始數據之間的進行線性插值；

讀取所述高精度子分區中的所述偏差數據；

根據各個線性插值與所述偏差數據，獲得所述數據分區對應的原始數據；

將所述數據分區對應的原始數據作為所述查詢結果。

5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，在根據各個線性插值與所述偏差數據，獲得所述多個原始數據之后，所述方法還包括：

根據所述查詢指令中還包括的篩選條件和所述數據分區對應的原始數據的統計參數，確定出符合所述篩選條件的最終數據；

將所述數據分區對應的原始數據作為所述查詢結果，具體為：

將所述最終數據作為所述查詢結果。

6.如權利要求3所述的方法，其特征在于，當將所述偏差數據作為所述高精度數據，且所述低精度子分區和所述高精度子分區為所述數據子分區時，查詢所述數據子分區中的數據，獲得查詢結果，具體包括：

讀取所述低精度子分區中的所述不可被壓縮的原始數據；

在各個所述不可被壓縮的原始數據之間的進行線性插值；

根據所述查詢指令中還包括的篩選條件和線性插值所對應的統計參數，確定出符合所述篩選條件的合格線性插值；

讀取所述高精度子分區中的與所述合格線性插值對應的所述偏差數據；

根據各個所述合格線性插值與所述偏差數據，獲得原始數據；

將所述原始數據作為所述查詢結果。

7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，在根據各個線性插值與所述偏差數據，獲得原始數據之后，所述方法還包括：

根據所述篩選條件和所述原始數據的統計參數，確定出符合所述篩選條件的最終數據；

將所述原始數據作為所述查詢結果，具體為：

將所述最終數據作為所述查詢結果。