[發(fā)明專利]分析裝置及電子設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510084817.6 | 申請日: | 2015-02-16 |
| 公開(公告)號: | CN104849217B | 公開(公告)日: | 2019-09-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 杉本守;江成芽久美 | 申請(專利權(quán))人: | 精工愛普生株式會社 |
| 主分類號: | G01N21/21 | 分類號: | G01N21/21;G01N21/65;G01N21/63 |
| 代理公司: | 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240 | 代理人: | 余剛;吳孟秋 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 分析 裝置 電子設(shè)備 | ||
1.一種分析裝置,其特征在于,具備:
電場增強(qiáng)元件,包括:金屬層、設(shè)置于所述金屬層上并使激發(fā)光透過的透光層、及設(shè)置于所述透光層上的多個(gè)金屬粒子,多個(gè)所述金屬粒子在第一方向上以第一節(jié)距排列,并在與所述第一方向交叉的第二方向上以第二節(jié)距排列;
光源,將沿所述第一方向偏振的直線偏振光、沿所述第二方向偏振的直線偏振光和圓偏振光中的至少一個(gè)作為所述激發(fā)光而照射至所述電場增強(qiáng)元件;以及
檢測器,檢測從所述電場增強(qiáng)元件發(fā)射的光,
所述電場增強(qiáng)元件的所述金屬粒子的配置滿足下述式(1)的關(guān)系:
P1<P2≤Q+P1···(1)
其中,P1表示所述第一節(jié)距,P2表示所述第二節(jié)距,將在所述金屬粒子的列上激發(fā)的局域型等離子體的角頻率設(shè)為ω、將構(gòu)成所述金屬層的金屬的介電常數(shù)設(shè)為ε(ω)、將所述金屬粒子的周邊的介電常數(shù)設(shè)為ε、將真空中的光速設(shè)為c、將作為所述激發(fā)光的照射角的來自所述金屬層的厚度方向的傾斜角設(shè)為θ,Q表示滿足下述式(2)的衍射光柵的節(jié)距:
(ω/c)·{ε·ε(ω)/(ε+ε(ω))}1/2=ε1/2·(ω/c)·sinθ+2aπ/Q(a=±1,±2,…)···(2),
將所述透光層的厚度設(shè)為G、將所述透光層的有效折射率設(shè)為neff、將所述激發(fā)光的波長設(shè)為λi時(shí),下述式(3)的關(guān)系被滿足:
20[nm]<G·(neff/1.46)≤160[nm]·(λi/785[nm])···(3),其中,所述G和所述λi的單位為nm。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分析裝置,其特征在于,
所述G、所述neff、所述λi滿足下述式(4)的關(guān)系,
30[nm]≤G·(neff/1.46)≤160[nm]·(λi/785[nm])···(4)。
3.一種分析裝置,其特征在于,具備:
電場增強(qiáng)元件,包括:金屬層、設(shè)置于所述金屬層上并使激發(fā)光透過的透光層、及設(shè)置于所述透光層上的多個(gè)金屬粒子,多個(gè)所述金屬粒子在第一方向上以第一節(jié)距排列,并在與所述第一方向交叉的第二方向上以第二節(jié)距排列;
光源,將沿所述第一方向偏振的直線偏振光、沿所述第二方向偏振的直線偏振光和圓偏振光中的至少一個(gè)作為所述激發(fā)光而照射至所述電場增強(qiáng)元件;以及
檢測器,檢測從所述電場增強(qiáng)元件發(fā)射的光,
所述電場增強(qiáng)元件的所述金屬粒子的配置滿足下述式(1)的關(guān)系:
P1<P2≤Q+P1···(1)
其中,P1表示所述第一節(jié)距,P2表示所述第二節(jié)距,將在所述金屬粒子的列上激發(fā)的局域型等離子體的角頻率設(shè)為ω、將構(gòu)成所述金屬層的金屬的介電常數(shù)設(shè)為ε(ω)、將所述金屬粒子的周邊的介電常數(shù)設(shè)為ε、將真空中的光速設(shè)為c、將作為所述激發(fā)光的照射角的來自所述金屬層的厚度方向的傾斜角設(shè)為θ,Q表示滿足下述式(2)的衍射光柵的節(jié)距:
(ω/c)·{ε·ε(ω)/(ε+ε(ω))}1/2=ε1/2·(ω/c)·sinθ+2aπ/Q(a=±1,±2,…)···(2),
所述透光層由通過m層的層層疊而成的層疊體構(gòu)成,
m是自然數(shù),
所述透光層從所述金屬粒子側(cè)向所述金屬層側(cè)按照第一透光層、第二透光層、…、第m-1透光層、第m透光層的順序?qū)盈B,
將所述金屬粒子的周邊的折射率設(shè)為n0、將所述金屬層的法線方向與所述激發(fā)光的入射方向所成的角設(shè)為θ0、將所述金屬層的法線方向與所述第m透光層中的所述激發(fā)光的折射光朝向所述金屬層的入射方向所成的角設(shè)為θm、將所述第m透光層的折射率設(shè)為nm、將所述第m透光層的厚度設(shè)為Gm、將所述激發(fā)光的波長設(shè)為λi時(shí),下述式(5)以及式(6)的關(guān)系被滿足:
n0·sinθ0=nm·sinθm···(5)
其中,所述Gm和所述λi的單位為nm。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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