[發(fā)明專利]一種空間目標(biāo)光學(xué)特性實測條件的室內(nèi)模擬裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510081245.6 | 申請日: | 2015-02-15 |
| 公開(公告)號: | CN104792346B | 公開(公告)日: | 2017-05-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 徐融;趙飛;楊新;項磊 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院光電研究院 |
| 主分類號: | G01D11/00 | 分類號: | G01D11/00 |
| 代理公司: | 北京理工大學(xué)專利中心11120 | 代理人: | 張瑜,仇蕾安 |
| 地址: | 100094*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 空間 目標(biāo) 光學(xué) 特性 實測 條件 室內(nèi) 模擬 裝置 | ||
1.一種空間目標(biāo)光學(xué)特性實測條件的室內(nèi)模擬裝置,其特征在于,包括光源(1)、反射鏡(2)、三軸轉(zhuǎn)臺(3)、探測器(4)、探測器導(dǎo)軌(5)、空間目標(biāo)模型(6)和探測器支架(7);
在室內(nèi)選取一半圓區(qū)域,在半圓區(qū)域的圓心處安裝三軸轉(zhuǎn)臺(3);
在所述半圓區(qū)域外部安裝光源(1)、反射鏡(2),光源(1)發(fā)出的光通過反射鏡(2)反射至安裝于三軸轉(zhuǎn)臺(3)的空間目標(biāo)模型(6)上;
探測器支架(7)一端安裝探測器(4),另一端與三軸轉(zhuǎn)臺連接,圍繞三軸轉(zhuǎn)臺進(jìn)行180度運動,且運動軌跡為所述半圓區(qū)域的圓弧;
探測器導(dǎo)軌(5),為半六邊形,且六邊形的中心與半圓區(qū)域的圓心重合,探測器支架(7)通過活動支點配件可活動的連接于探測器導(dǎo)軌(5),活動支點配件可沿探測器導(dǎo)軌(5)運動,同時可沿探測器支架(7)的延伸方向運動;
所述三軸轉(zhuǎn)臺(3)包括:底座(31)、第一支撐臂(32)、第二支撐臂(33)和第三支撐臂(34),底座(31)固定于地面上,第一支撐臂(32)可轉(zhuǎn)動的安裝于底座(31)上,轉(zhuǎn)軸設(shè)為Axis1,通過第一支撐臂(32)的轉(zhuǎn)動控制空間目標(biāo)模型(6)相對于光源方向的偏航角;第二支撐臂連接固定于第一支撐臂(32)上,第三支撐臂(34)可轉(zhuǎn)動的安裝于第二支撐臂(33)上,轉(zhuǎn)軸設(shè)為Axis2,通過第三支撐臂(34)的轉(zhuǎn)動控制空間目標(biāo)模型(6)相對于光源方向的滾動角;且第三支撐臂(34)兩端均有延伸段,空間目標(biāo)模型(6)安裝于兩延伸段之間,空間目標(biāo)模型(6)圍繞的轉(zhuǎn)軸為Axis3,通過空間目標(biāo)模型(6)的轉(zhuǎn)動調(diào)整空間目標(biāo)模型(6)相對于光源方向的俯仰角;
上述Axis1垂直于地面,Axis2平行于地面,通過第三支撐臂(34)的轉(zhuǎn)動使得Axis3在一個平面內(nèi)轉(zhuǎn)動,該平面垂直于Axis2;空間目標(biāo)模型(6)位于Axis1、Axis2和Axis3的交點上;
所述室內(nèi)模擬裝置設(shè)于室內(nèi)一矩形空間內(nèi),光源(1)和反射鏡(2)布置于矩形空間內(nèi)同一短邊的兩個角上;半圓區(qū)域的直邊平行于矩形空間長邊布置,墻邊預(yù)留出三軸轉(zhuǎn)臺的旋轉(zhuǎn)空間;且反射鏡(2)的具體位置在在半圓區(qū)域的直邊端點或其延長線上。
2.如權(quán)利要求1所述的空間目標(biāo)光學(xué)特性實測條件的室內(nèi)模擬裝置,其特征在于,三軸轉(zhuǎn)臺中心與反射鏡之間的距離為所述半圓區(qū)域的半徑。
3.如權(quán)利要求1所述的空間目標(biāo)光學(xué)特性實測條件的室內(nèi)模擬裝置,其特征在于,探測器支架(7)為支撐式或懸掛式;
所述支撐式為:探測器導(dǎo)軌(5)鋪于地面;
所述懸掛式為:探測器導(dǎo)軌(5)固定于室內(nèi)天花板。
4.如權(quán)利要求1所述的空間目標(biāo)光學(xué)特性實測條件的室內(nèi)模擬裝置,其特征在于,所述活動支點部件裝有電機,由電機驅(qū)動在探測器導(dǎo)軌(5)上行進(jìn),帶動探測器支架(7)和探測器(4)繞三軸轉(zhuǎn)臺轉(zhuǎn)動。
5.如權(quán)利要求1所述的空間目標(biāo)光學(xué)特性實測條件的室內(nèi)模擬裝置,其特征在于,所述探測器支架(7)的軸Axis0處安裝電機,由電機驅(qū)動探測器支架(7)帶動探測器(4)旋轉(zhuǎn),活動支點采用從動結(jié)構(gòu)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院光電研究院,未經(jīng)中國科學(xué)院光電研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510081245.6/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 目標(biāo)檢測裝置、學(xué)習(xí)裝置、目標(biāo)檢測系統(tǒng)及目標(biāo)檢測方法
- 目標(biāo)監(jiān)測方法、目標(biāo)監(jiān)測裝置以及目標(biāo)監(jiān)測程序
- 目標(biāo)監(jiān)控系統(tǒng)及目標(biāo)監(jiān)控方法
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤裝置
- 目標(biāo)檢測方法和目標(biāo)檢測裝置
- 目標(biāo)跟蹤方法、目標(biāo)跟蹤裝置、目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)跟蹤系統(tǒng)及目標(biāo)跟蹤方法





