[發(fā)明專利]利用電磁引力的頭-介質(zhì)接觸檢測

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510080882.1
• 申請日: 2015-02-15
• 公開（公告）號: CN105006236B
• 公開（公告）日: 2018-06-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: D·W·歐爾森;D·J·埃利森;M·T·約翰遜
• 申請（專利權(quán)）人: 希捷科技有限公司
• 主分類號: G11B5/187
• 分類號: G11B5/187;G11B5/255
• 代理公司: 上海專利商標事務(wù)所有限公司 31100
• 代理人: 姬利永

公開了一種利用電磁引力的頭?介質(zhì)接觸檢測。本公開的裝置一般地包括記錄頭、電路、熱傳感器和檢測器。記錄頭對記錄介質(zhì)具有電磁引力。此電路被配置成使記錄頭和記錄介質(zhì)之間的電磁引力振蕩。振蕩的電磁引力在記錄頭和記錄介質(zhì)之間產(chǎn)生相應(yīng)的振蕩的間隙。位于記錄頭中或附近的熱傳感器感測由振蕩的間隙引發(fā)的振蕩的溫度并產(chǎn)生代表所感測的溫度的傳感器信號。檢測器被耦合至熱傳感器并且被配置成利用傳感器信號和電磁引力檢測頭?介質(zhì)接觸和間隙中的至少一個。

概述

本公開的裝置一般地包括記錄頭(recording head)、電路、熱傳感器和檢測器。記錄頭對記錄介質(zhì)具有電磁引力。此電路被配置成使記錄頭和記錄介質(zhì)之間的電磁引力振蕩。振蕩的電磁引力在記錄頭和記錄介質(zhì)之間產(chǎn)生相應(yīng)的振蕩的間隙(clearance)。位于記錄頭中或附近的熱傳感器感測由振蕩的間隙引發(fā)的振蕩的溫度并產(chǎn)生代表所感測的溫度的傳感器信號。檢測器被耦合至熱傳感器并且被配置成利用傳感器信號和電磁引力檢測頭-介質(zhì)接觸和間隙中的至少一個。

本公開的另一裝置一般地包括電路和控制器。此電路被配置成使記錄頭和記錄介質(zhì)之間的電磁引力振蕩。振蕩的電磁引力在記錄頭和記錄介質(zhì)之間產(chǎn)生相應(yīng)的振蕩的間隙。控制器被耦合至電路并且被配置成感測由振蕩的間隙引發(fā)的振蕩的溫度；并且利用所感測的溫度和電磁引力檢測頭-介質(zhì)接觸。

本公開的方法包括引起在記錄頭和記錄介質(zhì)之間的電磁引力的振蕩。該方法進一步包括通過振蕩的電磁引力引起由在記錄頭中或附近的熱傳感器產(chǎn)生的信號中的振蕩并且利用來自熱傳感器的信號和電磁引力兩者來檢測頭-介質(zhì)接觸。

以上發(fā)明內(nèi)容并不旨在描述每個實施例或每種實現(xiàn)方式。通過參照下面詳細的描述以及權(quán)利要求書并結(jié)合附圖，更完整的理解將變得很顯然。

附圖簡述

圖1是根據(jù)各實施例的包括電阻溫度系數(shù)(TCR)傳感器的加熱器致動的頭換能器布置的簡化側(cè)視圖。

圖2是圖1中所示的加熱器致動的頭換能器布置的前視圖。

圖3示出了處于預致動配置和致動配置下的圖1和2的加熱器致動的頭換能器布置。

圖4是示出了根據(jù)各實施例的在寫操作中使用以執(zhí)行利用電磁力的頭-介質(zhì)接觸檢測的部件的示例的框圖。

圖5是示出了根據(jù)各實施例的被施加至主軸電機的電壓偏置的簡化的框圖。

圖6是示出了根據(jù)各實施例的襯底偏置方案的電路示意圖。

圖7是示出了根據(jù)各實施例的在利用電磁力的頭-介質(zhì)接觸檢測期間電壓和靜電力中的變化的示例的曲線圖。

圖8是示出了響應(yīng)于增加的加熱器功率的在頭盤界面(head disk interface)兩端的靜電力的一次諧波處的熱傳感器振幅的示例的曲線圖。

圖9是示出了根據(jù)各實施例的響應(yīng)于振蕩的磁力的飛行高度變化的示例的曲線圖。

圖10是示出了根據(jù)各實施例的利用電磁力的頭介質(zhì)接觸檢測的過程的流程圖。

這些附圖不一定按比例示出。附圖中使用的相同數(shù)字表示相同部件。然而，將理解在給定附圖中使用數(shù)字來指代部件不旨在限制用另一附圖中同一數(shù)字標記的部件。

詳細描述

根據(jù)各實施例并參見圖1-3，滑塊100被示為由懸架101支撐成緊鄰旋轉(zhuǎn)磁性存儲介質(zhì)106。滑塊100支撐記錄頭換能器103和熱耦合至該頭換能器103的加熱器102。電阻溫度系數(shù)(TCR)傳感器105被示為位于頭換能器103上接近磁性記錄介質(zhì)106的點處。此接近點一般被理解為頭換能器103和磁性記錄介質(zhì)106之間的最靠近的接觸點。TCR傳感器105可包括雙端電阻溫度系數(shù)(DETCR)傳感器。TCR類型傳感器通過測量在傳感器兩端的電阻變化或電阻變化率來測量溫度變化并且照此可感測頭-介質(zhì)間距的變化以及在一些實施例中可感測介質(zhì)106的粗糙度的變化。