[發(fā)明專利]面向SystemC電路模型的軟錯(cuò)誤敏感度分析方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510079568.1 | 申請(qǐng)日: | 2015-02-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104598699A | 公開(公告)日: | 2015-05-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐東超;繩偉光;何衛(wèi)鋒;毛志剛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海交通大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06F17/50 | 分類號(hào): | G06F17/50 |
| 代理公司: | 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 鄭瑋 |
| 地址: | 200240 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 面向 systemc 電路 模型 錯(cuò)誤 敏感度 分析 方法 | ||
1.一種面向SystemC電路模型的軟錯(cuò)誤敏感度分析方法,包括如下步驟:
步驟一,對(duì)測試電路進(jìn)行SystemC建模;
步驟二,驗(yàn)證SystemC仿真模型的功能正確性;
步驟三,選取仿真模型故障注入點(diǎn);
步驟四,在SystemC仿真模型運(yùn)行過程中,對(duì)所選取的故障注入點(diǎn)進(jìn)行隨機(jī)的信號(hào)位翻轉(zhuǎn),以模擬軟錯(cuò)誤故障,實(shí)現(xiàn)故障注入;
步驟五,結(jié)合測試電路SystemC仿真模型、故障注入點(diǎn)的選取以及故障注入實(shí)現(xiàn),構(gòu)建仿真故障測試平臺(tái);
步驟六,基于仿真故障測試平臺(tái)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)實(shí)驗(yàn);
步驟七,將面積因子引入軟錯(cuò)誤敏感度指標(biāo),計(jì)算獲得電路的軟錯(cuò)誤敏感度。
2.如權(quán)利要求1所述的一種面向SystemC電路模型的軟錯(cuò)誤敏感度分析方法,其特征在于:步驟一中,根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)SystemC語言標(biāo)準(zhǔn)與參考手冊(cè)以及測試電路實(shí)現(xiàn)細(xì)節(jié)對(duì)測試電路進(jìn)行SystemC建模。
3.如權(quán)利要求1所述的一種面向SystemC電路模型的軟錯(cuò)誤敏感度分析方法,其特征在于:步驟二中,采用自底向上的驗(yàn)證策略,使用Verilog/SystemC混合仿真的驗(yàn)證方法,對(duì)電路各模塊逐個(gè)進(jìn)行功能驗(yàn)證。
4.如權(quán)利要求3所述的一種面向SystemC電路模型的軟錯(cuò)誤敏感度分析方法,其特征在于,步驟二進(jìn)一步包括:
使用待驗(yàn)證SystemC模塊替換原電路設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)模塊,以組成混合系統(tǒng);
以原電路設(shè)計(jì)作為對(duì)照系統(tǒng),使用腳本語言實(shí)現(xiàn)不同測試負(fù)載的自動(dòng)加載與系統(tǒng)運(yùn)行;
對(duì)相應(yīng)測試模塊的輸出端口數(shù)據(jù)進(jìn)行周期記錄;
使用腳本實(shí)現(xiàn)混合系統(tǒng)與對(duì)照系統(tǒng)運(yùn)行所產(chǎn)生的數(shù)據(jù)記錄文件的自動(dòng)化比較,如果相同則表示SystemC模塊功能正確,否則需要對(duì)SystemC模型進(jìn)行修改。
5.如權(quán)利要求1所述的一種面向SystemC電路模型的軟錯(cuò)誤敏感度分析方法,其特征在于:步驟三中,分析SystemC仿真模型實(shí)現(xiàn)細(xì)節(jié),選擇電路內(nèi)部模塊輸出端口信號(hào)以及模塊內(nèi)部所有控制、數(shù)據(jù)信號(hào)作為故障注入點(diǎn)。
6.如權(quán)利要求1所述的一種面向SystemC電路模型的軟錯(cuò)誤敏感度分析方法,其特征在于:步驟四中,征是,使用仿真命令法實(shí)現(xiàn)故障注入,使用C++語言,通過對(duì)仿真模型內(nèi)部隨機(jī)信號(hào)數(shù)據(jù)位進(jìn)行翻轉(zhuǎn),實(shí)現(xiàn)故障注入。
7.如權(quán)利要求6所述的一種面向SystemC電路模型的軟錯(cuò)誤敏感度分析方法,其特征在于:隨機(jī)信號(hào)位的翻轉(zhuǎn)包括單比特信號(hào)翻轉(zhuǎn)以及多比特信號(hào)中某一隨機(jī)位的翻轉(zhuǎn)。
8.如權(quán)利要求1所述的一種面向SystemC電路模型的軟錯(cuò)誤敏感度分析方法,其特征在于,步驟五進(jìn)一步包括
使用偽隨機(jī)數(shù)生成函數(shù)產(chǎn)生故障注入時(shí)間與故障注入位置;
根據(jù)故障注入時(shí)間控制仿真模型的運(yùn)行、暫停與重啟;
在仿真模型暫停時(shí),根據(jù)步驟四內(nèi)容以及故障注入位置進(jìn)行故障注入;
將系統(tǒng)運(yùn)行結(jié)果與未故障注入系統(tǒng)運(yùn)行結(jié)果對(duì)比,輸出比較結(jié)果與故障信息。
9.如權(quán)利要求1所述的一種面向SystemC電路模型的軟錯(cuò)誤敏感度分析方法,其特征在于:步驟六中,使用分層抽樣策略進(jìn)行統(tǒng)計(jì)實(shí)驗(yàn),以電路模塊個(gè)數(shù)作為分層數(shù),以10倍模塊故障注入點(diǎn)數(shù)作為層內(nèi)樣子數(shù),針對(duì)電路各模塊,基于仿真故障測試平臺(tái)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)實(shí)驗(yàn)。
10.如權(quán)利要求1所述的一種面向SystemC電路模型的軟錯(cuò)誤敏感度分析方法,其特征在于:步驟七中,通過分析軟件綜合得到測試電路內(nèi)部各模塊的電路面積,從而得到各模塊所占電路總面積的比例因子θi;根據(jù)大規(guī)模統(tǒng)計(jì)實(shí)現(xiàn)記錄數(shù)據(jù),得到引起仿真模型功能錯(cuò)誤的故障注入數(shù)占模塊總故障注入數(shù)的比值結(jié)合面積比例因子與故障比值,根據(jù)軟錯(cuò)誤敏感度計(jì)算公式得到模塊的軟錯(cuò)誤敏感度。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海交通大學(xué);,未經(jīng)上海交通大學(xué);許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510079568.1/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F17-00 特別適用于特定功能的數(shù)字計(jì)算設(shè)備或數(shù)據(jù)處理設(shè)備或數(shù)據(jù)處理方法
G06F17-10 .復(fù)雜數(shù)學(xué)運(yùn)算的
G06F17-20 .處理自然語言數(shù)據(jù)的
G06F17-30 .信息檢索;及其數(shù)據(jù)庫結(jié)構(gòu)
G06F17-40 .數(shù)據(jù)的獲取和記錄
G06F17-50 .計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)
- 一種滿足SystemC語法的多核處理器
- SystemC系統(tǒng)級(jí)綜合方法
- 一種基于SystemC的AADL軟構(gòu)件模型仿真測試實(shí)例生成方法
- 一種通信協(xié)議的報(bào)文路徑信息在混合語言驗(yàn)證系統(tǒng)中的提取方法
- 基于QEMU和SystemC的多核仿真器
- 面向SystemC電路模型的軟錯(cuò)誤敏感度分析方法
- 基于模型的SystemC代碼生成系統(tǒng)
- 實(shí)現(xiàn)SystemC驗(yàn)證的方法和驗(yàn)證平臺(tái)組件架構(gòu)
- 軟硬件聯(lián)合驗(yàn)證系統(tǒng)及方法
- 芯片中算法模塊的驗(yàn)證方法、裝置、設(shè)備及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)





