[發明專利]電容測量系統及電容測量方法在審
| 申請號： | 201510078923.3 | 申請日： | 2015-02-13 |
| 公開（公告）號： | CN105988041A | 公開（公告）日： | 2016-10-05 |
| 發明（設計）人： | 范盛淳;曾建銘 | 申請（專利權）人： | 宏達國際電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R27/26 | 分類號： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人： | 王珊珊 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 電容 測量 系統 測量方法 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于宏達國際電子股份有限公司，未經宏達國際電子股份有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510078923.3/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：顯影裝置與圖像形成設備
- 下一篇：一種導航方法及裝置
