[發明專利]基于CT圖像的小間隙精確測量方法

有效

• 申請號: 201510076736.1
• 申請日: 2015-02-13
• 公開（公告）號: CN104596449B
• 公開（公告）日: 2017-07-07
• 發明（設計）人: 鄧俊;陳鎬;王楊國;張愛東;何偉波;羅志鵬;孫靈霞;周瑛
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院材料研究所
• 主分類號: G01B15/00
• 分類號: G01B15/00
• 代理公司: 成都眾恒智合專利代理事務所(普通合伙)51239
• 代理人: 劉華平

1.基于CT圖像的小間隙精確測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

（1）將待測樣品放置到9MeV高能工業CT機的裝夾平臺上，使間隙面垂直于水平面，并調節工業CT機的系統參數，使得其上的準直器寬度與高度均調節到0.8～1mm；

（2）利用9MeV高能工業CT機對待測樣品進行斷層掃描，獲取樣品中的間隙的CT圖像；

（3）選取濾波值為400、飽和值為3、閾值為4，對所需測量的CT圖像的投影數據進行重建；該步驟中，采用扇束卷積反投影算法對投影的數據進行重建；

（4）調整CT圖像，使間隙特征為豎直方向；

（5）獲取斷層圖像重建后任意一行的圖像灰度數據，并找出該行中圖像灰度值的最小點，然后以該點為中心，選取出像素大小為30×100的矩形區域；

（6）計算所選矩形區域的間隙平均值，獲得待測樣品小間隙寬度的亞像素級測量結果。

2.根據權利要求1所述的基于CT圖像的小間隙精確測量方法，其特征在于，所述步驟（1）中待測樣品的材質為鋁、鋼或鎢合金。

3.根據權利要求1或2所述的基于CT圖像的小間隙精確測量方法，其特征在于，在對待測樣品進行斷層掃描之前，還對其進行DR掃描。