[發明專利]諧振線圈固有頻率和品質因數的非接觸式測量方法

在審

• 申請號: 201510076599.1
• 申請日: 2015-02-12
• 公開（公告）號: CN104614595A
• 公開（公告）日: 2015-05-13
• 發明（設計）人: 朱春波;毛世通;魏國;逯仁貴;宋凱;李陽
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26;G01R21/00
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 岳昕

1.諧振線圈固有頻率和品質因數的非接觸式測量方法，其特征在于：該方法包括以下步驟：

步驟一、將阻抗測量裝置測量標準線圈(1)相連接；

步驟二、利用阻抗測量裝置測量標準線圈(1)阻抗的實部Real(Z_S(f))和虛部Imag(Z_S(f))隨頻率變化的曲線，所述頻率的范圍為0～20M；

步驟三、將標準線圈(1)與待測線圈通過微弱磁場強度相互耦合；

步驟四、利用阻抗測量裝置測量標準線圈(1)阻抗的實部Real(Z₀(f))和虛部Imag(Z₀(f))隨頻率變化的曲線，f表示頻率，所述頻率的范圍為0～20M；

步驟五、計算Real(Z_C(f))與Imag(Z_C(f))；

Real(Z_C(f))＝Real(Z₀(f))-Real(Z_S(f))，Imag(Z_C(f))＝Imag(Z₀(f))-Imag(Z_S(f))；

步驟六、令Imag(Z_C(f))＝0，計算得到待測線圈的固有頻率f₀；

步驟七、構建新的阻抗復數Z_C：Z_C＝Real(Z_C(f))+i×Imag(Z_C(f))，并計算Z_C的模以及Z_C的模的最大值，其中i代表虛數；

步驟八、計算Z_C的模下降到所述最大值的(1/2)^(1/2)倍時所對應的兩個頻率點f₁和f₂，并計算Z_C的模的3db帶寬Δf＝f₁-f₂，最后計算待測線圈的品質因數Q：

Q=f0Δf.]]>

2.根據權利要求1所述的諧振線圈固有頻率和品質因數的非接觸式測量方法，其特征在于：所述阻抗測量裝置為阻抗分析儀或網絡分析儀。

3.根據權利要求1所述的諧振線圈固有頻率和品質因數的非接觸式測量方法，其特征在于：所述阻抗測量裝置與標準線圈(1)的連接采用同軸電纜或雙絞線。

4.根據權利要求1所述的諧振線圈固有頻率和品質因數的非接觸式測量方法，其特征在于：步驟三中，標準線圈(1)與待測線圈之間的耦合系數為0.01～0.5。