[發(fā)明專利]普通萬(wàn)用表測(cè)試可控硅擴(kuò)展裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510072050.5 | 申請(qǐng)日: | 2015-02-12 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104793119A | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-07-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 姚有峰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 皖西學(xué)院 |
| 主分類號(hào): | G01R31/26 | 分類號(hào): | G01R31/26;G01R15/12 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 237012 *** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 普通 萬(wàn)用表 測(cè)試 可控硅 擴(kuò)展 裝置 | ||
本發(fā)明涉及萬(wàn)用表新功能擴(kuò)展,用于解決普通萬(wàn)用表(無(wú)論是數(shù)字萬(wàn)用表還是指針式萬(wàn)用表)無(wú)法直接測(cè)試可控硅的問(wèn)題,方案為一種普通萬(wàn)用表測(cè)試可控硅擴(kuò)展裝置,包括雙電源電路、運(yùn)算放大電路、顯示電路和觸發(fā)電路;所述雙電源電路與萬(wàn)用表的9V電源相連后為運(yùn)算放大電路提供±4.5V的雙電源;所述運(yùn)算放大電路分別與雙電源電路和顯示電路相連后為待測(cè)可控硅提供雙向?qū)ㄐ盘?hào);所述顯示電路與觸發(fā)電路相連,為測(cè)試電路提供導(dǎo)通顯示;所述觸發(fā)電路與待測(cè)可控硅相連后為待測(cè)可控硅提供觸發(fā)信號(hào)。本方案將普通萬(wàn)用表經(jīng)過(guò)改裝后能夠直接測(cè)量可控硅的多功能萬(wàn)用表,改裝成本低且使用方便。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及萬(wàn)用表新功能擴(kuò)展,尤其涉及一種能夠通過(guò)普通萬(wàn)用表直接測(cè)試可控硅的裝置。
背景技術(shù)
可控硅又稱晶閘管,其具有觸發(fā)導(dǎo)通,電壓過(guò)零自動(dòng)關(guān)斷的特性,被廣泛應(yīng)用于各種電子產(chǎn)品和自動(dòng)控制設(shè)備中。可控硅分為單向可控硅與雙向可控硅,單向可控硅一般用于可控整流電路、過(guò)流/過(guò)壓保護(hù)電路;雙向可控硅一般用于交流調(diào)節(jié)電路,如調(diào)光臺(tái)燈、調(diào)速風(fēng)扇中的交流電源控制等。
目前測(cè)試可控硅性能的方法大致有兩種:一是采用可控硅測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)試,二是按照教科書(shū)上介紹的簡(jiǎn)易可控硅測(cè)試法借助萬(wàn)用表進(jìn)行測(cè)試。可控硅測(cè)試儀價(jià)格昂貴。簡(jiǎn)易測(cè)試法,測(cè)試方法比較繁雜,不利于初學(xué)者掌握。在大多數(shù)學(xué)校的教學(xué)、實(shí)驗(yàn)中用的萬(wàn)用表,無(wú)論是指針式萬(wàn)用表,還是數(shù)字式萬(wàn)用表只能實(shí)現(xiàn)基本的電壓、電流及電阻的測(cè)試,都無(wú)法實(shí)現(xiàn)直接對(duì)可控硅進(jìn)行測(cè)試,如果采購(gòu)專用設(shè)備,勢(shì)必會(huì)增加教學(xué)成本,若在現(xiàn)有萬(wàn)用表上增加這一擴(kuò)展模塊,可以達(dá)到即節(jié)約成本,又?jǐn)U展了萬(wàn)用表功能的目的。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明提供能夠用普通萬(wàn)用表直接測(cè)試可控硅特性的裝置。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:一種普通萬(wàn)用表測(cè)試可控硅擴(kuò)展裝置,包括雙電源電路、運(yùn)算放大電路、顯示電路和觸發(fā)電路。所述雙電源電路與萬(wàn)用表的9V電源相連后為運(yùn)算放大電路提供±4.5V的雙電源;所述運(yùn)算放大電路分別與雙電源電路和顯示電路相連后為擴(kuò)展裝置提供雙向?qū)ㄐ盘?hào);所述顯示電路與觸發(fā)電路相連,為測(cè)試電路提供導(dǎo)通顯示;所述觸發(fā)電路與待測(cè)可控硅相連后為待測(cè)可控硅提供觸發(fā)信號(hào)。
采用本發(fā)明的技術(shù)方案后,通過(guò)本裝置將萬(wàn)用表內(nèi)部的9V電池轉(zhuǎn)化為±4.5V的雙電源,為集成運(yùn)放供電。集成運(yùn)放構(gòu)成雙相脈沖信號(hào)源,為可控硅提供雙向的交流信號(hào),此信號(hào)加到反向并聯(lián)的發(fā)光二極管上,通過(guò)發(fā)光二極管的亮暗變化來(lái)指示可控硅的導(dǎo)通狀態(tài),同時(shí)萬(wàn)用表表頭指示出觸發(fā)電流的大小。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,使用方便,將普通萬(wàn)用表經(jīng)過(guò)改裝之后實(shí)現(xiàn)直接測(cè)量可控硅的多功能萬(wàn)用表。(1)擴(kuò)展了普通萬(wàn)用表使用領(lǐng)域,無(wú)需購(gòu)買測(cè)量可控硅的專用設(shè)備。(2)通過(guò)集成運(yùn)放芯片、電容、電阻、發(fā)光二極管及插座組成測(cè)試電路,實(shí)現(xiàn)對(duì)可控硅特性的測(cè)試,改裝成本較低。
進(jìn)一步的改進(jìn),所述運(yùn)算放大電路與顯示電路之間設(shè)有限流電阻R4。
進(jìn)一步的改進(jìn),所述雙電源電路包括電容C1和電容C2;所述電容C1和電容C2分設(shè)在9V電源的正、負(fù)極處。
進(jìn)一步的改進(jìn),所述運(yùn)算放大電路包括運(yùn)算放大器U1A、電阻R1、R2、R3和電容C3;所述運(yùn)算放大器U1A的正供電端與正4.5V電源相連;所述運(yùn)算放大器U1A的負(fù)供電端與負(fù)4.5V電源相連;所述電阻R1分別與運(yùn)算放大器U1A的反相輸入端和輸出端相連;所述電阻R2分別與運(yùn)算放大器U1A的同相輸入端和地相連;所述電阻R3分別與運(yùn)算放大器U1A的同相輸入端和輸出端相連;所述電容C3分別與U1A的反相輸入端和地端相連。
進(jìn)一步的改進(jìn),所述顯示電路包括發(fā)光二極管D1和發(fā)光二極管D2;所述發(fā)光二極管D1和發(fā)光二極管D2反向并聯(lián)在運(yùn)算放大電路和觸發(fā)電路之間。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
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