[發明專利]X射線多功能無損探傷設備及其工件檢測方法在審
| 申請號: | 201510071923.0 | 申請日: | 2015-02-11 |
| 公開(公告)號: | CN105092611A | 公開(公告)日: | 2015-11-25 |
| 發明(設計)人: | 周廣濤;李順仁;張華;蘇禮季;劉駿;陳聰彬;郭廣磊;郭玉龍 | 申請(專利權)人: | 華僑大學;廈門鉑豐電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N23/04 | 分類號: | G01N23/04 |
| 代理公司: | 泉州市文華專利代理有限公司 35205 | 代理人: | 陳智海 |
| 地址: | 362000 福*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 射線 多功能 無損 探傷 設備 及其 工件 檢測 方法 | ||
技術領域
本發明涉及無損檢測領域技術,尤其是指一種X射線多功能無損探傷設備及其工件檢測方法。
背景技術
現有X射線設備主要結構和原理:X射線透照工件、成像探測器接收并轉換成數字信號傳送至計算機,再由專用軟件還原成影像后,進行品質辨識、分析。然而現有的X射線設備由于設計結構的限制存在以下缺陷:
1、功能模式單一:目前的X射線設備要么側重CT(立體)功能,要么側重DR(平面)功能,前者不能應付大批量工件檢測,后者又不能滿足較高檢測精度要求,設備利用率不能得到更完善的體現。因此,一般情況下,需要配置兩種X射線裝置,一種負責CT功能,一種負責DR功能,導致設備購買成本過高,并且占地面積較大。
2、檢測精度不足:目前X射線設備只配置一套運動機構,應用范圍不夠寬泛,對不同工藝方法的檢測需求較有局限,探測精度和效率不能有效兼顧,對于焊接結構缺陷探傷精度不足,還存在使用時長偏短、維護及更換成本偏高的缺陷。
3、需建屏蔽房:X射線具有一定的傷害性,為避免對人體造成損害,需要另建屏蔽房,將X射線設備置于屏蔽房內。這無疑問會增加建造成本,且X射線設備移動不方便,所有待測工件均需要搬至屏蔽房內,耗時耗力,增加不必要的負擔。
發明內容
有鑒于此,本發明針對現有技術存在之缺失,其主要目的是提供一種X射線多功能無損探傷設備及其工件檢測方法,兼容CT檢測功能和DR檢測功能,CT和DR共用防護鉛房,無需加建輻射屏蔽房,使設備可隨意安裝在車間任何位置;并且在同一機體內部分別安裝可獨立運行的運動機構,視作業需求運行,使DR和CT功能轉換有機結合,提高設備績效。
為實現上述目的,本發明采用如下之技術方案:
一種X射線多功能無損探傷設備,包括
一防護鉛房,該防護鉛房配置有一可開/合的防護鉛門,由該防護鉛房和防護鉛門包圍形成密閉的檢測空間;
一載物臺,該載物臺可推拉活動地設在檢測空間底部的支承平臺上,所述載物臺上設有用于置放工件的旋轉卡盤,該旋轉卡盤連接有升降機構和平移機構;
一線陣探測器,該線陣探測器安裝于該載物臺下方的支承平臺中,該線陣探測器連接探測器橫向運動機構、探測器縱向運動機構;
一X射線機,該X射線機安裝于檢測空間頂部的防護鉛房房頂內壁面,該X射線機連接有X射線機橫向運動機構、X射線機縱向運動機構。
作為一種優選方案,所述旋轉卡盤包括第一卡盤和第二卡盤,該第一卡盤配置第一卡座、該第二卡盤配置第二卡座;所述旋轉卡盤的平移機構包括設置于載物臺上的兩平移滑軌,搭接于該兩平移滑軌之間的平移滑板,所述第二卡座固定于該平移滑板上。
作為一種優選方案,所述升降機構連接伺服電機,該伺服電機安裝在第一卡座和第二卡座上。
作為一種優選方案,所述探測器橫向運動機構包括橫向伺服電機、以及由該橫向伺服電機驅動的橫向滑軌與橫向滑槽配合結構;所述探測器縱向運動機構包括縱向伺服電機、以及由該縱向伺服電機驅動的縱向滑軌與縱向滑槽的配合結構。
作為一種優選方案,所述X射線機橫向運動機構包括橫向伺服電機、以及由該橫向伺服電機驅動的橫向滑軌與橫向滑槽配合結構;所述X射線機縱向運動機構包括縱向伺服電機、以及由該縱向伺服電機驅動的縱向滑軌與縱向滑槽的配合結構。
作為一種優選方案,所述載物臺的底部加裝聯排從動輪。
作為一種優選方案,所述載物臺由伺服電機驅動。
作為一種優選方案,所述防護鉛房的防護鉛門為上下開閉結構。
一種X射線多功能無損探傷設備的工件檢測方法,該X射線多功能無損探傷設備兼容CT檢測和DR檢測功能;
DR檢測包括以下步驟:
(1)首先打開檢測防護鉛門,將載物臺開出到防護鉛門之外;
(2)將被檢工件平鋪在載物臺之上,平鋪過程注意間隔被檢物品不要堆疊;
(3)工件放置好后將載物臺運動至防護鉛房內,關閉防護鉛門;
(4)射線開啟,線陣探測器和X射線機由伺服電機精確控制,時刻保持對正并且同步運動;
(5)由計算機系統同步顯示檢測圖像,并儲存在計算機硬盤內;
(6)控制成像系統將載物臺上所放置物品全部掃描完成之后開啟防護鉛門換下一批被檢工件;
CT檢測功能不可與DR檢測功能同時使用,CT檢測包括以下步驟:
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