[發明專利]一種連續測量介質表面氡析出率的方法和裝置

有效

• 申請號: 201510071759.3
• 申請日: 2015-02-11
• 公開（公告）號: CN104614753B
• 公開（公告）日: 2017-09-26
• 發明（設計）人: 李志強;肖德濤;趙桂芝
• 申請（專利權）人: 南華大學;衡陽師范學院
• 主分類號: G01T1/167
• 分類號: G01T1/167
• 代理公司: 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙)11350
• 代理人: 肖平安

1.一種連續測量介質表面氡析出率的方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1：測量初始氡濃度C₀；

開啟取樣泵用0.1-12L/min的流率取樣被測環境中含氡空氣，取樣時間為ΔT，此時測量室內的氡濃度即為初始時刻t＝0時集氡罩的氡濃度即初始氡濃度C₀；

步驟2：計算介質表面氡析出率；

(a)先按以下方法確定A、B以及等效衰變常量λe：

將具有開孔且帶攪拌功能的集氡罩扣在待測介質表面；以時間間隔為T對集氡罩內氡的濃度進行多次測量；

第n和n-1次測量的集氡罩內氡的濃度之間的關系為：C_n＝A+BC_n-1；

其中n為自然數；

C_n為t＝n*T時刻的集氡罩內氡的濃度；

A=JSλeV(1-e-λeT),B=e-λeT;]]>

J為被測介質表面氡析出率；

S為集氡罩的底面積；

V表示集氡罩與測量室的總體積；

在氡累積過程中，經多次測量，采用最小二乘法確定公式C_n＝A+BC_n-1的A和B；并求得

再以作為氡累積過程和氡動態平衡過程的分界點；測量時間對應的過程為氡累積過程，對應的過程為氡動態平衡過程；

(b1)在氡累積過程，

(b2)在氡動態平衡過程，

2.根據權利要求1所述的連續測量介質表面氡析出率的方法，其特征在于，取樣泵的流率2L/min。

3.根據權利要求2所述的連續測量介質表面氡析出率的方法，其特征在于，ΔT不小于1分鐘。

4.根據權利要求3所述的連續測量介質表面氡析出率的方法，其特征在于，T不小于10分鐘。

5.根據權利要求4所述的連續測量介質表面氡析出率的方法，其特征在于，T為15分鐘。

6.一種連續測量介質表面氡析出率的裝置，其特征在于，包括測氡儀(5)和扣裝在待測介質表面(6)上的集氡罩(1)；

集氡罩上設有泄露孔(1-4)，集氡罩內具有攪拌器(1-1)；

測氡儀中具有測量室(5-1)；

集氡罩的集氡罩抽氣連接孔(1-3)與測氡儀的測量儀抽氣連接孔(5-2)通過進氣連接管(3)連接；

集氡罩的集氡罩回氣連接孔(1-2)與測氡儀的測量儀回氣連接孔(5-3)通過回氣連接管(2)連接；

采用權利要求1-5任一項所述的方法測量待測介質表面氡析出率。

7.根據權利要求6所述的連續測量介質表面氡析出率的裝置，其特征在于，進氣連接管上設有氡子體過濾器(4)。