[發明專利]一種多通道光學檢測系統有效
| 申請號: | 201510069887.4 | 申請日: | 2015-02-10 |
| 公開(公告)號: | CN104614367B | 公開(公告)日: | 2017-12-12 |
| 發明(設計)人: | 肖波濤;白慧玲;符青山 | 申請(專利權)人: | 華中科技大學 |
| 主分類號: | G01N21/75 | 分類號: | G01N21/75;G01N21/64 |
| 代理公司: | 北京華沛德權律師事務所11302 | 代理人: | 劉杰 |
| 地址: | 430074 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 通道 光學 檢測 系統 | ||
1.一種多通道光學檢測系統,其特征在于,包括:
墊片,所述墊片的第一面用于承載熒光受激物;
多通道反應室,設置于所述墊片的第一面所在的一側,所述多通道反應室包括M個具有單獨通道的反應室,M為大于等于30的整數,所述反應室用于容置待測對象,其中,所述反應室所在的一側與所述墊片的第一面相對,多通道反應室為光纖陣列反應室,光纖的內部是高折射率的材料,外部包覆低折射率的材料;
物鏡,設置于所述多通道反應室的通道所在的一側;
激發光束生成裝置,用于生成激發光束,所述激發光束用于激發所述熒光受激物生成激發熒光;
第一分光裝置,設置于所述物鏡遠離所述多通道反應室的一側,用于將所述激發光束反射至所述墊片;
圖像接收裝置,用于接收所述熒光受激物受所述激發光束激發而生成的所述激發熒光;
所述多通道光學檢測系統還包括:
淬滅光束生成裝置,用于生成淬滅光束,所述淬滅光束用于去除所述熒光受激物的本底熒光;
第二分光裝置,設置于所述第一分光裝置遠離所述物鏡的一側,用于反射所述淬滅光束。
2.如權利要求1所述的多通道光學檢測系統,其特征在于,所述激發光束生成裝置具體包括第一光源和第一濾片,所述第一光源能夠提供所述激發光束。
3.如權利要求1所述的多通道光學檢測系統,其特征在于,所述淬滅光束生成裝置具體包括第二光源和第二濾片,所述第二光源能夠提供所述淬滅光束。
4.如權利要求1所述的多通道光學檢測系統,其特征在于,所述多通道光學檢測系統還包括發射濾片,所述發射濾片設置于所述第二分光裝置和所述圖像接收裝置之間,用于阻擋波長小于所述激發熒光的波長的光束。
5.如權利要求1所述的多通道光學檢測系統,其特征在于,所述圖像接收裝置包括圖像傳感器,所述圖像傳感器用于根據所述激發熒光生成對應的熒光圖像。
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