[發(fā)明專利]抗噪性評估裝置和評估抗噪性的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510067315.2 | 申請日： | 2015-02-09 |
| 公開（公告）號： | CN105277819B | 公開（公告）日： | 2018-04-03 |
| 發(fā)明（設計）人： | 奈良茂夫 | 申請（專利權(quán)）人： | 富士施樂株式會社 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11127 | 代理人： | 呂俊剛,劉久亮 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 抗噪性 評估 裝置 方法 | ||
1.一種抗噪性評估裝置，該裝置包括：
S參數(shù)測量部，該S參數(shù)測量部測量受測試設備的S參數(shù)，所述受測試設備包括至少一對輸入信號端口、一對輸出信號端口以及用于噪聲信號的輸入的噪聲信號端口；
評估指數(shù)計算部，該評估指數(shù)計算部計算所述S參數(shù)中的、所述噪聲信號端口與所述一對輸入信號端口之間的S參數(shù)之間的差，或者計算所述S參數(shù)中的、所述噪聲信號端口與所述一對輸出信號端口之間的S參數(shù)之間的差，作為評估指數(shù)；
第二頻譜計算部，該第二頻譜計算部獲取通過執(zhí)行快速傅立葉變換而獲得的第一頻譜，所述快速傅里葉變換是針對通過對輸入到所述噪聲信號端口的所述噪聲信號執(zhí)行電磁場分析而獲得的電壓波形執(zhí)行的，并且所述第二頻譜計算部計算作為所述第一頻譜與所述評估指數(shù)的乘積的第二頻譜；以及
頻率提取部，該頻率提取部在所述第二頻譜中提取電壓達到局部最大值的頻率作為評估抗噪性的頻率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗噪性評估裝置，
其中，所述評估指數(shù)計算部使用所述噪聲信號端口與所述一對輸入信號端口之間的所述S參數(shù)之間的所述差和所述噪聲信號端口與所述一對輸出信號端口之間的所述S參數(shù)之間的所述差中的較大的差取代所述評估指數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗噪性評估裝置，該抗噪性評估裝置還包括：
瞬態(tài)分析部，該瞬態(tài)分析部對在所述頻率提取部提取出的頻率從所述一對輸入信號端口到所述一對輸出信號端口的信號的瞬態(tài)特性進行分析。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的抗噪性評估裝置，還包括：
電磁場分析部，該電磁場分析部通過對輸入到所述受測試設備的所述噪聲信號端口的所述噪聲信號執(zhí)行的所述電磁場分析來獲得所述電壓波形，并且對所述電壓波形執(zhí)行快速傅立葉變換以計算所述第一頻譜。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗噪性評估裝置，該抗噪性評估裝置還包括：
估計部，該估計部比較針對所述受測試設備獲得的所述第二頻譜與針對另一個受測試設備獲得的第二頻譜，并且估計所述受測試設備和所述另一個受測試設備的抗噪性的優(yōu)劣。
6.一種評估受測試設備的抗噪性的方法，所述受測試設備包括至少一對輸入信號端口、一對輸出信號端口以及用于噪聲信號的輸入的噪聲信號端口，該方法包括以下步驟：
測量所述受測試設備的S參數(shù)；
計算所述S參數(shù)中的、所述噪聲信號端口與所述一對輸入信號端口之間的S參數(shù)之間的差，或者計算所述噪聲信號端口與所述一對輸出信號端口之間的S參數(shù)之間的差，作為評估指數(shù)；
獲取通過執(zhí)行快速傅立葉變換而獲得的第一頻譜，所述快速傅立葉變換是針對通過對輸入到所述噪聲信號端口的所述噪聲信號執(zhí)行電磁場分析而獲得的電壓波形執(zhí)行的，并且計算作為所述第一頻譜與所述評估指數(shù)的乘積的第二頻譜；以及
在所述第二頻譜中提取電壓達到局部最大值的頻率，作為評估抗噪性的頻率。
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