[發明專利]一種微環芯片驅動電路性能測試裝置

有效

• 申請號: 201510060750.2
• 申請日: 2015-02-05
• 公開（公告）號: CN104597394B
• 公開（公告）日: 2017-01-11
• 發明（設計）人: 耿勇;武保劍;廖明樂;文峰;邱昆
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 電子科技大學專利中心51203
• 代理人: 李明光

1.一種微環芯片驅動電路性能測試裝置，包括計算機測試平臺單元、雙路驅動/選擇單元以及光芯片傳輸系統單元；其中，所述計算機測試平臺單元由數據處理模塊和控制信號發生模塊組成，所述雙路驅動/選擇單元由待測驅動電路模塊、參考電流/電壓源表模塊和2×1選擇開關模塊組成，所述光芯片傳輸系統單元由微環芯片模塊、可調激光器模塊和光電A/D轉換器模塊組成；

所述控制信號發生模塊是整個裝置的控制中心，連接控制2×1開關模塊、待測驅動電路模塊、參考電流/電壓源表模塊、數據處理模塊和可調激光器模塊實現相應的功能；參考電流/電壓源表模塊和待測驅動電路模塊分別獨自產生驅動信號，輸入2×1選擇開關模塊，2×1選擇開關模塊輸出從這兩路驅動信號中交替選擇一路驅動信號來驅動微環芯片；可調激光器模塊作為測試光源，光電A/D轉換器模塊將微環芯片模塊輸出的光信號轉換為電信號并傳輸給數據處理模塊；數據處理模塊對光電A/D轉換器模塊輸出信號進行處理，得出待測驅動電路性能的參數。