[發明專利]一種電池老化測試儀及電池老化測試方法

有效

• 申請號: 201510057772.3
• 申請日: 2015-02-04
• 公開（公告）號: CN104614682B
• 公開（公告）日: 2018-09-25
• 發明（設計）人: 林懷;黃少斌;陳先樑;陳雄文
• 申請（專利權）人: 福建實達電腦設備有限公司
• 主分類號: G01R31/36
• 分類號: G01R31/36
• 代理公司: 福州市博深專利事務所(普通合伙) 35214
• 代理人: 林志崢

1.一種電池老化測試儀，其特征在于：包括CPU、LCD顯示電路、按鍵電路、DEBUG串口/USB調試電路、LED指示電路以及由MP2615芯片構成的可同時工作的12路充放電電路，所述CPU由單獨適配器獨立供電，所述LCD顯示電路、按鍵電路、DEBUG串口/USB調試電路、LED指示電路以及12路充放電電路分別與所述CPU連接；所述的12路充放電電路每四路由一個9V適配器供電，且該12路充放電電路的輸出端均連接有水泥電阻負載放電；

所述充放電電路的充電電路包括一MP2615芯片，所述MP2615芯片的EN端與所述的CPU連接，所述MP2615芯片的SW輸出端依次連接電感L1，經電阻R1后分別與所述充放電電路的放電電路的輸入端和待測電池的正極連接；BST輸入端接收SW輸出端依次經電阻R15、電容C5的信號，進行調節輸出波形；CSP和BATT端分別連接電阻R1兩端，檢測電池電壓；

所述的放電電路包括一MOS管和一三極管，所述的MOS管的柵極經電阻R10分別與源極和所述放電電路的輸入端連接；所述的三極管的集電極與所述柵極連接；所述三極管的發射極接地，基極分別與電阻R11的一端、電阻R12的一端連接；所述電阻R11的另一端分別與電容C10一端以及所述CPU連接；所述電阻R12的另一端、電容C10的另一端均接地；所述MOS管的漏極與一二極管D6的負極連接并作為放電端；所述二極管D6的正極接地；

所述的充放電電路作為副板獨立于所述CPU設置；所述待測電池是放置于所述副板的電池盒內；所述電池盒包括設置于一副板上的電池放置槽，所述電池放置槽的一內壁設置有電極觸頭，所述電池放置槽的下側壁上設置有電池彈性固定件，所述副板上且位于電池放置槽上方的區域設置有指示燈以及引線插槽；所述彈性固定件包括一固定桿，所述固定桿內設置有復位彈性桿；所述的電池放置槽底部開設有散熱通孔。

2.根據權利要求1所述的電池老化測試儀，其特征在于：所述的CPU還連接有預留充電電路，12路充電電路的充電電流均為0.5A，所述預留充電電路的充電電流為1A。

3.一種采用權利要求1所述的電池老化測試儀進行電池老化測試的方法，其特征在于：包括充電測試和放電測試，MP2615芯片的EN引腳電平的高低控制充電和放電，當EN引腳處于高電平時，所述MP2615芯片停止對電池充電，同時所述MOS管打開，電池開始恒阻放電；當EN引腳處于低電平時，所述MP2615芯片開始對電池充電，同時所述MOS關閉，電池停止放電；所述充電測試包括以下判斷方式：

1)當電池充電超時，所述MP2615芯片的CHGOK引腳處于高電平，紅燈常亮，判斷不合格；

2)當充電溫度超過硬件設定溫度，所述MP2615芯片的CHGOK引腳處于高電平，紅燈常亮，判斷不合格；

所述放電測試包括以下判斷方式：

1)放電時間結束時，主板上的AD采樣模塊采集的電池電壓值與設定的閾值電壓進行對比，如果低于該閾值電壓，紅燈常亮，判斷不合格；

還包括以下判斷方式：

1)當電池接入，導致接觸不良時，所述MP2615芯片的CHGOK引腳電平就會拉高，從而判定接觸不良，蜂鳴器會發出警告，提示有電池接觸不良，電池將無法充電；

2)接入電池后，如果CHGOK的引腳為高電平時，紅燈常亮，開啟充電使能，老化失敗，告警模塊蜂鳴器響起，記錄錯誤信息；

3)接入電池后，CHGOK為低電平時，開啟充電使能，進入充電流程，綠燈滅，紅燈以較低的頻率閃爍，定時檢測CHGOK信號，判斷是否充滿，CHGOK處于高電平，如果電池電壓值低于8.3V，則判定為不合格，紅燈常亮，開啟充電使能，老化失敗，告警模塊蜂鳴器響起，記錄錯誤信息；

4)當CHGOK處于高電平，電池電壓值大于8.3V時，關閉充電使能，進入大功率放電流程；紅燈以較高頻率閃爍，放電到規定時間，檢測電池電壓值是否大于放電閥值；放電時間未滿規定時間，判定為容量不足，電池不合格，紅燈常亮，開啟充電使能，老化失敗，告警模塊蜂鳴器響起，記錄錯誤信息；

5)當放電時間滿足閥值時，開啟充電使能，重新將電池充滿，紅燈以較低頻率閃爍，定時檢測CHGOK信號，判斷是否充滿，CHGOK處于高電平，如果電池電壓值高于8.3V，則判定為合格，老化通過，綠燈常亮，滅掉紅燈。