[發明專利]基于形貌相關計算的三維位移測量方法有效
| 申請號： | 201510054222.6 | 申請日： | 2015-02-03 |
| 公開（公告）號： | CN104634253B | 公開（公告）日： | 2017-03-15 |
| 發明（設計）人： | 孫曉鵬;劉誠;朱健強 | 申請（專利權）人： | 中國科學院上海光學精密機械研究所 |
| 主分類號： | G01B11/02 | 分類號： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 上海新天專利代理有限公司31213 | 代理人： | 張澤純,張寧展 |
| 地址： | 201800 上海市*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 形貌 相關 計算 三維 位移 測量方法 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院上海光學精密機械研究所，未經中國科學院上海光學精密機械研究所許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510054222.6/2.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
