[發明專利]一種大平板水膜試驗任意點膜厚測量裝置

有效

• 申請號: 201510053786.8
• 申請日: 2015-02-02
• 公開（公告）號: CN104733062B
• 公開（公告）日: 2017-08-01
• 發明（設計）人: 胡珀;王勇;宋春景;倪陳宵;涂騰;潘新新;扈本學
• 申請（專利權）人: 上海交通大學;上海核工程研究設計院
• 主分類號: G21C17/10
• 分類號: G21C17/10
• 代理公司: 上海漢聲知識產權代理有限公司31236
• 代理人: 郭國中,樊昕

1.一種大平板水膜試驗任意點膜厚測量裝置，其特征在于，主要由電機、齒輪、導軌、鏈條和膜厚探頭組成，在所述大平板上、沿其長邊方向安裝鋼質側壁，頂部覆蓋鋼化玻璃構成通道，在所述鋼質側壁安裝導軌，所述導軌上安裝電機Ⅰ、Ⅱ以及由其分別驅動的齒輪Ⅰ、Ⅱ，在垂直導軌方向上安裝鏈條，所述鏈條上固定膜厚探頭，所述電機Ⅰ驅動齒輪Ⅰ轉動時，使所述膜厚探頭沿大平板長邊方向移動，所述電機Ⅱ驅動齒輪Ⅱ轉動時，齒輪Ⅱ帶動所述鏈條轉動，使所述膜厚探頭沿大平板寬邊方向移動。

2.根據權利要求1所述的大平板水膜試驗任意點膜厚測量裝置，其特征在于，所述裝置包括兩套，分別安裝在大平板長邊方向上。

3.根據權利要求1所述的大平板水膜試驗任意點膜厚測量裝置，其特征在于，所述大平板的傾斜角度可調。