[發明專利]一種圖像處理類IP的可約束隨機驗證方法和裝置

有效

• 申請號: 201510053443.1
• 申請日: 2015-02-02
• 公開（公告）號: CN104615537B
• 公開（公告）日: 2018-03-27
• 發明（設計）人: 李仙輝
• 申請（專利權）人: 福州瑞芯微電子股份有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;G06T1/00
• 代理公司: 福州市景弘專利代理事務所(普通合伙)35219
• 代理人: 林祥翔,呂元輝

技術領域

本發明涉及圖像處理領域，尤其涉及一種圖像處理類IP的可約束隨機驗證方法和裝置。

背景技術

隨著科學技術的發展，多媒體的應用也越來越廣泛，尤其是拍照技術的應用成為多媒體技術非常重要的一部分。攝像頭采集圖像時由于受到光線、溫度以及自身的固有特性等很多因素的影響，所以需要對采集到的圖像數據進行處理驗證后，才能得到人眼所看到的圖像相同的圖像，因而對采集到的圖像數據進行處理驗證就成為很重要的一門技術。

目前，對采集到的圖像數據進行處理驗證的方法包括：預先設計測試用例，通過手動輸入的方式逐一對測試用例進行一一驗證，將待測電路與參考模型進行比對，完成對圖像處理的驗證。對于測試人員而言，這種方法工作量極大，且效率低下。因為是采用手動輸入測試用例的方式來進行驗證，很容易發生錯誤，在編程領域，小小的錯誤都很可能釀成巨大的災難。此外，因為預先設計的定向測試用例，測試沒有延伸，測試用例很難覆蓋所有的約束條件，無法完全滿足實際需要。

綜上所述，如何在對圖像數據進行處理驗證時，減少測試的工作量，提升驗證效率，減輕測試人員的壓力，并保證測試用例可以全方位覆蓋圖像處理過程中的各種可能性，是圖像處理領域一個亟需解決的問題。

發明內容

為此，需要提供一種圖像處理類IP的可約束隨機驗證的技術方案，用以解決在對圖像數據進行處理驗證時，測試工作量大、效率低下、風險高、測試用例無法全面覆蓋所有圖像處理情況的問題。

為實現上述目的，發明人提供了一種圖像處理類IP的可約束隨機驗證方法，包括步驟：

參數配置模塊對參數進行約束；

參數生成模塊生成待測電路的配置參數，按照受約束隨機方案生成測試用例，并將測試用例發送給待測電路和參考模型模塊；

待測電路接收參數生成模塊生成的隨機測試用例，并輸出該測試用例對應的測試結果；

參考模型模塊接收參數生成模塊生成的隨機測試用例，并輸出該測試用例對應的模擬結果；

校驗模塊將該測試用例對應的測試結果和模擬結果進行比對。

進一步地，所述步驟“參數生成模塊隨機生成待測電路的配置參數”具體包括：

參數生成模塊以時間為種子隨機生成待測電路的配置參數。

進一步地，所述方法還包括：

覆蓋率統計收集模塊對參數生成模塊生成的測試用例進行統計，并判斷參數生成模塊生成的測試用例是否已經全部覆蓋參數生成模塊所能生成的全部測試用例，若是則參數生成模塊結束生成待測電路的配置參數，否則參數生成模塊隨機生成配置參數。

進一步地，所述方法還包括：

控制分析模塊在校驗模塊判定測試用例對應的測試結果和模擬結果不一致后，輸出該測試用例。

發明人還提供了一種圖像處理類IP的可約束隨機驗證裝置，所述裝置包括參數配置模塊，參數生成模塊，測試結果輸出模塊，參考模型模塊和校驗模塊；所述參數配置模塊和參數生成模塊連接，所述測試結果輸出模塊和參數生成模塊連接，所述參考模型模塊和參數生成模塊連接，所述校驗模塊與測試結果輸出模塊連接，所述校驗模塊與所述參考模型模塊連接；

所述參數配置模塊用于對參數進行約束；

所述參數生成模塊用于生成待測電路的配置參數，按照受約束隨機方案生成測試用例，并將測試用例發送給待測電路和參考模型模塊；

所述測試結果輸出模塊用于待測電路接收參數生成模塊生成的測試用例，并輸出該測試用例對應的測試結果；

所述參考模型模塊用于接收參數生成模塊生成的隨機測試用例，并輸出該測試用例對應的模擬結果；

所述校驗模塊用于將隨機測試用例對應的測試結果和模擬結果進行比對。

進一步地，所述參數生成模塊隨機生成待測電路的配置參數具體包括：

參數生成模塊以時間為種子隨機生成待測電路的配置參數。

進一步地，所述裝置還包括覆蓋率統計收集模塊，所述覆蓋率統計收集模塊和參數生成模塊連接，所述覆蓋率統計收集模塊用于對參數生成模塊生成的測試用例進行統計，并判斷參數生成模塊生成的測試用例是否已經全部覆蓋參數生成模塊所能生成的全部測試用例，若是則參數生成模塊結束生成配置參數，否則參數生成模塊隨機生成配置參數。

進一步地，所述裝置還包括控制分析模塊，所述控制分析模塊與所述校驗模塊連接，所述控制分析模塊用于在校驗模塊判定測試用例對應的測試結果和模擬結果不一致后，輸出該測試用例。