[發明專利]一種Spee曲線深度測量裝置

有效

• 申請號: 201510052303.2
• 申請日: 2015-02-02
• 公開（公告）號: CN104546199A
• 公開（公告）日: 2015-04-29
• 發明（設計）人: 胡榮黨;周昱;曹真勝;王海燕;秦化祥
• 申請（專利權）人: 溫州醫科大學附屬口腔醫院
• 主分類號: A61C19/04
• 分類號: A61C19/04
• 代理公司: 杭州浙科專利事務所(普通合伙) 33213
• 代理人: 吳秉中

技術領域

本發明屬于口腔正畸醫療器械領域，具體涉及一種口腔下頜牙列Spee曲線深度測量裝置。

背景技術

從牙齒排列的垂直向位置關系特征可以看出，上下牙列的牙尖（下頜牙弓最低點）高度并不一致，牙列的形態也具有一定的曲度，曲線就是用以描述這一牙列形態特征的重要概念，矢狀方向的曲線稱為縱曲線，口腔中下頜牙列中，連接切牙的切嵴、尖牙牙尖、前磨尖牙及磨牙頰尖構成的一條連續的凹向上的縱曲線也稱Spee曲線，正常牙列該曲線的切牙段較平直，從尖牙向后經前磨牙至第一磨牙的遠中頰尖逐漸降低，然后第二、第三磨牙的頰尖又逐漸升高。Spee曲線是正畸診斷和治療計劃制定的重要參考指標，Spee曲線深度是指下頜Spee曲線最低點到下頜平面的垂直距離，下頜平面是由下頜中切牙中點及兩側下頜最后一個磨牙遠中頰尖所構成的一個假想平面。Spee曲線深度是臨床正畸治療設計中計算下頜牙列擁擠度的重要參考因素，研究表明整平1mm Spee曲線需要1.5mm的間隙，臨床上測量Spee曲線的常規方法是：將直尺放置在下切牙切端與最后一個下磨牙的牙尖上，醫生通過肉眼估測兩側Spee曲線最低點至直尺的距離，牙弓兩側各測量一次，取兩側平均值加0.5mm，即為排平牙弓或改正頜曲線所需的間隙。Spee曲線是否正確測量，將影響牙列擁擠度的測量，影響矯治方案的選擇，影響錯牙合畸形設計時是否需要拔牙來提供間隙。因此，Spee曲線的精確估計具有重要的臨床意義。

目前臨床沒有專門裝置測量Spee曲線，臨床常用直尺放置在下切牙切端與最后一個下磨牙的牙尖上，由于下頜牙弓呈弓形，而直尺呈長條直形，故直尺并不能蓋過下頜所有牙尖，尤其是Spee曲線中其最低位“牙尖”（ 最低位“牙尖”可以代表Spee曲線最低點，以下均用最低位“牙尖”來表述），因此用直尺法測量下頜牙列最低位“牙尖”到直尺的距離，勢必會由于視線偏斜等，造成較大誤差。而且，錯牙合畸形牙列常較復雜，如牙列左右不對稱，下頜中線偏斜，高位錯牙合尖牙等等，都影響著下頜牙弓Spee曲線深度的測量。因此，設計一種適合各種復雜下頜牙列的Spee曲線深度測量裝置具有重要的臨床意義。

發明內容

為了解決背景技術中提到的技術問題，本發明的目的在于提供一種Spee曲線深度測量裝置。

本發明采用的技術方案如下：

一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于其由定位裝置及用于測量下頜Spee曲線最低位牙尖到定位裝置所在平面垂直距離的測量裝置構成；所述定位裝置包括用于定位在牙列中線的主定位桿，用于分別放置在左、右牙列上方的兩塊測量板，測量板的前端或后端設有可以轉動的副定位桿，測量板上設有若干測量孔；所述測量板通過連桿與主定位桿活動連接；所述測量板、主定位桿、副定位桿位于同一平面；所述測量裝置包括設有刻度的測量尺和位于測量尺內且可上下滑動的測量筆。

所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于：所述測量筆的上端對準起始刻度線，下端伸出測量尺，其伸出測量尺的長度等于測量板的的厚度。

所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于：所述測量裝置還包括平板，所述平板位于測量尺的最下端，且與測量尺垂直。

所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于：所述測量裝置包括設有刻度的測量尺，所述測量尺內設有可以上下滑動的測量筆，所述測量筆的上端對準起始刻度線，下端伸出測量尺，其伸出測量尺的長度等于測量板的的厚度。

所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于：所述測量板為網板。

所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于：所述測量板上的測量孔為圓孔。

所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于：所述主定位桿為可伸縮桿。

所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于：所述副定位桿的形狀為T型。

所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于：所述測量板的前端和后端均設有可以轉動的副定位桿。

所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于：所述平板的性狀為矩形。

所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于：所述平板位于測量尺的一側。