[發(fā)明專利]氮化鎵系結(jié)晶的生長方法和熱處理裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510050339.7 | 申請(qǐng)日: | 2015-01-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104821348B | 公開(公告)日: | 2018-07-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 梅澤好太;渡邊要介 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 東京毅力科創(chuàng)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L33/00 | 分類號(hào): | H01L33/00;H01L21/02;H01L21/205;H01L21/324 |
| 代理公司: | 北京林達(dá)劉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇;張會(huì)華 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 硅基板 氮化鎵系結(jié)晶 中間層 生長 熱處理裝置 氮化鋁 結(jié)晶核 氧化鋁 成膜 加熱 | ||
本發(fā)明提供氮化鎵系結(jié)晶的生長方法和熱處理裝置。氮化鎵系結(jié)晶的生長方法包括以下工序:以350℃~700℃的成膜溫度在硅基板上進(jìn)行含有氮化鋁或氧化鋁的中間層的成膜;在含有氨或氧的氣氛中加熱所述硅基板和所述中間層,而使所述中間層所含有的氮化鋁或氧化鋁的結(jié)晶核分布在該硅基板上;以及以分布在所述硅基板上的所述結(jié)晶核為起點(diǎn),使氮化鎵系結(jié)晶在所述硅基板上生長。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及氮化鎵系結(jié)晶的生長方法和熱處理裝置。
背景技術(shù)
作為發(fā)光器件等半導(dǎo)體器件的構(gòu)成材料而公知有氮化鎵(GaN)。通常,為了使GaN系結(jié)晶生長,作為成為基底的基板而使用藍(lán)寶石基板。例如,作為第1以往例而公知有如下一種方法:通過向反應(yīng)管內(nèi)供給三甲基鎵(TMGa)氣體和氮(N2)氣并使這些氣體在已經(jīng)在反應(yīng)管內(nèi)被加熱的藍(lán)寶石基板上發(fā)生反應(yīng),從而在藍(lán)寶石基板上形成GaN結(jié)晶層。
另外,為了廉價(jià)地制造大面積的GaN系半導(dǎo)體器件,能夠想到使GaN系結(jié)晶在硅(Si)基板上生長。但是,由于Si和GaN的反應(yīng)性較高,因此,若使GaN系結(jié)晶直接在硅基板上生長,則會(huì)產(chǎn)生回熔蝕刻(日文:メルトバックエッチング)反應(yīng),其結(jié)果,難以使優(yōu)質(zhì)的GaN結(jié)晶在硅基板上生長。為了解決這樣的問題,公知有如下一種技術(shù):通過使與Si和GaN這兩者的親和性較高的中間層介于硅基板與GaN結(jié)晶層之間,從而防止產(chǎn)生回熔蝕刻。
例如,作為第2以往例,公知有一種在硅基板上依次層疊初始緩沖區(qū)域、多層緩沖區(qū)域、以及GaN單結(jié)晶層而成的半導(dǎo)體器件。該初始緩沖區(qū)域包括AlN單結(jié)晶層。該AlN單結(jié)晶層是通過如下方式形成的:將三甲基鋁(TMA)和氨(NH3)用作原料氣體,在1100℃的條件下進(jìn)行氣相生長。在第2以往例的半導(dǎo)體器件中,通過將AlN單結(jié)晶層作為中間層介于硅基板與GaN單結(jié)晶層之間,從而防止產(chǎn)生回熔蝕刻。
發(fā)明內(nèi)容
在第2以往例中,為了使AlN結(jié)晶化,以較高的成膜溫度形成AlN單結(jié)晶層。但是,為了使AlN結(jié)晶化,需要將硅基板加熱至接近熔點(diǎn)的溫度,從而由于加熱溫度硅基板有時(shí)會(huì)發(fā)生熔融。因此,能夠想到在硅基板上以低溫形成非晶質(zhì)的AlN膜并使GaN單結(jié)晶在AlN膜之上生長。但是,在以低溫形成了AlN膜的情況下,在使GaN的結(jié)晶在AlN膜上生長時(shí)非晶質(zhì)的AlN膜的一部分會(huì)結(jié)晶化,從而有時(shí)使AlN膜產(chǎn)生裂縫。在該情況下,硅基板和GaN會(huì)經(jīng)由裂縫而發(fā)生反應(yīng),從而有可能產(chǎn)生回熔蝕刻。
本申請(qǐng)的技術(shù)方案提供能夠抑制在使氮化鎵系結(jié)晶在硅基板上生長時(shí)產(chǎn)生回熔蝕刻的氮化鎵系結(jié)晶的生長方法和熱處理裝置。
在一技術(shù)方案中,提供一種氮化鎵系結(jié)晶的生長方法。該方法包括以下工序:(a)以350℃~700℃的成膜溫度在硅基板上進(jìn)行含有氮化鋁或氧化鋁的中間層的成膜;(b)在含有氨或氧的氣氛中加熱硅基板和中間層,而使中間層所含有的氮化鋁或氧化鋁的結(jié)晶核分布在該硅基板上;以及(c)使氮化鎵系結(jié)晶以結(jié)晶核為起點(diǎn)在硅基板上生長。
一技術(shù)方案的熱處理裝置包括:處理容器;氣體供給部,其用于向處理容器內(nèi)供給氣體;加熱部,其用于對(duì)容納在處理容器內(nèi)的被處理體進(jìn)行加熱;以及控制部,其用于控制氣體供給部和加熱部,控制部以如下方式控制氣體供給部和加熱部:向處理容器內(nèi)供給含有鋁的氣體和含有氮或氧的氣體,并將被處理體加熱至350℃~700℃的溫度;向處理容器內(nèi)供給含有氨或氧的氣體,并加熱被處理體;以及向處理容器內(nèi)供給含有鎵的氣體和含有氮的氣體,并加熱被處理體。
附圖說明
附圖是作為本說明書的一部分而編入的,表示本申請(qǐng)的實(shí)施方式,這些附圖用于連同所述一般性說明和后述的實(shí)施方式的詳細(xì)內(nèi)容一起說明本申請(qǐng)的概念。
圖1是表示一實(shí)施方式的氮化鎵系結(jié)晶的生長方法的流程圖。
圖2是概略地表示在實(shí)施一實(shí)施方式的氮化鎵系結(jié)晶的生長方法時(shí)所使用的、另一實(shí)施方式的熱處理裝置的剖視圖。
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