[發明專利]一種基于二次縫裁剪特征的圖像盲檢測方法

有效

• 申請號: 201510049619.6
• 申請日: 2015-01-30
• 公開（公告）號: CN104599279B
• 公開（公告）日: 2017-04-19
• 發明（設計）人: 柯永振;山青青;閔衛東;郭景
• 申請（專利權）人: 天津工業大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06K9/62
• 代理公司: 北京思創畢升專利事務所11218
• 代理人: 郭韞

1.一種基于二次縫裁剪特征的圖像盲檢測方法，其特征在于：所述方法包括：

(1)對圖像進行一次額外的縫裁剪操作獲得額外縫裁剪圖像；

(2)進行特征提取：計算該圖像和其對應的額外縫裁剪圖像間的相似度特征、能量比特征以及縫距離差值特征；

(3)利用提取到的相似度特征、能量比特征以及縫距離差值特征，通過訓練支持向量機來檢測縫裁剪；

其中，所述步驟(3)是這樣實現的：

將11維特征送入支持向量機進行訓練分類，從而實現縫裁剪的檢測；

所述11維特征包括：1維的相似度特征，2維的均值能量和能量方差的能量比，以及8維縫距離差值特征，其中，8維縫距離差值特征包括水平方向p分別取10％、25％、50％、75％的4維縫距離差值特征的和垂直方向p分別取10％、25％、50％、75％的4維縫距離差值特征；

其中，所述將11維特征送入支持向量機進行訓練分類，從而實現縫裁剪的檢測是這樣實現的：

訓練分類包括訓練階段和分類階段，在訓練階段，用戶給定原始圖像和縫裁剪圖像，假定原始圖像的標志為1，縫裁剪圖像的標志為-1；

對原始圖像進行步驟(1)和步驟(2)的處理，獲得原始圖像的11維特征，對縫裁剪圖像進行步驟(1)和步驟(2)的處理，獲得縫裁剪圖像的11維特征，將原始圖像的11維特征和標志1，以及縫裁剪圖像的11維特征和標志-1送到支持向量機進行訓練，獲得一個分類模型；

對待檢測圖像進行步驟(1)和步驟(2)的處理，獲得待檢測圖像的11維特征，在分類階段，將待檢測圖像的11維特征送到訓練階段獲得的分類模型中，如果輸出結果為1，則表示該待檢測圖像是原始圖像，如果輸出結果為-1，則表示該待檢測圖像是縫裁剪過的圖像；

所述待檢測圖像是訓練階段時用的原始圖像或縫裁剪圖像，或者任意原始圖像或縫裁剪圖像。

2.根據權利要求1所述的基于二次縫裁剪特征的圖像盲檢測方法，其特征在于：所述步驟(1)是這樣實現的：

對于所有大小為M×N的TIF或JPEG格式的圖像，首先通過縫裁剪算法在所述圖像的橫向和縱向分別找到k條縫，然后將這k條縫移除，最后得到(M-k)×(N-k)的縫裁剪圖像，即為額外縫裁剪圖像；

M、N為一副圖像的像素的行數和列數。

3.根據權利要求2所述的基于二次縫裁剪特征的圖像盲檢測方法，其特征在于：所述步驟(2)包括：

計算圖像和其對應的額外縫裁剪圖像間的相似度特征：

采用雙向的相似度測量方法來計算圖像和額外縫裁剪圖像間的相似度特征。