[發明專利]帶狀線諧振器夾具

有效

• 申請號: 201510047190.7
• 申請日: 2015-01-29
• 公開（公告）號: CN104569510B
• 公開（公告）日: 2017-11-14
• 發明（設計）人: 張永華;陳文錄;賈燕;劉國平;石小傳;鄔寧彪;李小明;劉國立
• 申請（專利權）人: 無錫江南計算技術研究所
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 北京眾合誠成知識產權代理有限公司11246
• 代理人: 龔燮英

技術領域

本發明涉及高頻介質材料的介電性能測試領域，更具體地說，本發明涉及一種帶狀線諧振器夾具的設計與加工。

背景技術

隨著各類通信系統的高頻化、網絡數據系統的高速化，電子產品中高頻介質材料的應用越來越廣泛，對介電性能的GHz頻率下的測試需求也不斷增加。其中帶狀線測試方法以寬頻帶、操作簡便等優勢，成為目前較常用的測試方式。

帶狀線是將一條寬度為W的薄導帶放置在兩塊相距為b的寬導體接地平面之間的中部，兩個接地平面之間的整個空間填充有介電參數為εr的電介質。帶狀線的幾何結構見圖1，帶狀傳輸線可以看成是由同軸線演變而來的。因此,帶狀線的場結構與同軸線的類似，參見圖2，其中示出了帶狀線磁場和電場分布圖，其中實線表示電力線，可以看出電力線由金屬導帶指向接地板；其中虛線表示磁力線，可以看出磁力線環繞導體帶。

由于帶狀線內導體的存在，使之可以傳輸無縱向分量的TEM波。因此截止波長為無窮大的TEM模是帶狀線的主模，是帶狀線工作的通常模式。與平行平板波導和同軸線相似，帶狀線也能支持高階TM模和TE模，但這些模式在介電參數的測試過程中中通常是需要避免和削弱的(這些模式可以采用地平面之間的短路螺釘以及把兩平面之間的間隔限制到小于λ/4來抑制)。

由于帶狀線傳輸主模為TEM模，但若尺寸選擇不當，或制作精度低等原因造成結構上的不均勻，則會產生高次TE模和TM模。在選擇尺寸時，應盡量避免高次模的出現。

帶狀線法介電性能測試方法指的是利用TEM模進行測試，并利用多模技術、模式識別技術和雜模抑制技術，進行寬頻測試。該方法測試出的結果為電場垂直于測試樣品的介電參數，其極化方向與高頻印制板實際使用情況相符。帶狀線諧振器是通過對該諧振器的諧振頻率和無載品質因數進行測試，結合高頻基材的長度和厚度、導帶寬度及厚度、導帶和金屬地板的金屬電阻率，計算得到高頻基材的介電參數。

在帶狀線法介電性能測試方法中，需要將尺寸相同的兩基片之間的中間位置夾持金屬銅箔導帶，然后再上下壓上導電良好的金屬板，形成兩端開路的帶狀線，并在其傳播方向上進行微波信號的耦合，形成耦合回路。由此，需要一種能夠穩定這種結構的夾具。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是針對現有技術中存在上述缺陷，提供一種用于帶狀線法介電性能測試的帶狀線諧振器夾具，其能夠穩定地固定帶狀線諧振器。

為了實現上述技術目的，根據本發明，提供了一種用于帶狀線法介電性能測試的帶狀線諧振器夾具，包括：相互配合的下夾塊和上夾塊；其中，所述下夾塊部分包括：用于將下夾塊部分固定在工作臺上的多個定位孔、用于布置介質基片的凹槽、固定上夾塊的螺紋孔，及定位銷；而且其中，所述上夾塊部分包括：用于固定上夾塊的定位孔、用于布置介質基片的凹槽、防止上夾塊和介質基片滑動的銷釘孔。

優選地，第一排銷釘孔和第二排銷釘孔分別插入第一排定位銷和第二排定位銷。

優選地，第一排螺紋孔與第一排定位孔對齊以便能夠向第一排螺紋孔和第一排定位孔貫穿地插入螺釘，第二排螺紋孔與第二排定位孔對齊以便能夠向第二排螺紋孔和第二排定位孔貫穿地插入螺釘。

優選地，基片布置下側凹槽與基片布置上側凹槽對齊以形成用于安裝作為帶狀線諧振器測試樣品的介質基片的空間。

優選地，第一排螺紋孔和第二排螺紋孔對稱排布。

優選地，第一排定位孔和第二排定位孔對稱排布。

優選地，所述帶狀線諧振器夾具采用不銹鋼材料制成。

本發明的用于帶狀線法介電性能測試的帶狀線諧振器夾具能夠有效地固定上下兩個或更多個介質基片，并保證其緊密地重疊在一起；而且保證諧振器的兩端良好接地；該結構適合于合理設計夾具尺寸以削弱高次干擾模的影響；而且保證給測試基片施加均勻且足夠大的壓力。此外，本發明的用于帶狀線法介電性能測試的帶狀線諧振器夾具能夠降低對作為帶狀線諧振器測試樣品的介質基片的制作要求。

附圖說明

結合附圖，并通過參考下面的詳細描述，將會更容易地對本發明有更完整的理解并且更容易地理解其伴隨的優點和特征，其中：

圖1示意性地示出了帶狀線幾何結構。

圖2示意性地示出了帶狀線磁場和電場分布圖。

圖3示意性地示出了根據本發明優選實施例的用于帶狀線法介電性能測試的帶狀線諧振器夾具的下夾塊部分的俯視圖。

圖4示意性地示出了根據本發明優選實施例的用于帶狀線法介電性能測試的帶狀線諧振器夾具的下夾塊部分的截面圖。