[發(fā)明專利]一種超級電容測試方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510047067.5 | 申請日: | 2015-01-30 |
| 公開(公告)號: | CN104635082B | 公開(公告)日: | 2017-06-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 周公博;王后連;朱真才;李偉;彭玉興;李志翔;王朋輝 | 申請(專利權(quán))人: | 中國礦業(yè)大學 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 221008*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 超級 電容 測試 方法 裝置 | ||
1.一種超級電容測試裝置,其特征在于,包括:充電電路、多路選擇器、電子負載、控制模塊、采集模塊、上位機;所述的充電電路和待測試超級電容通過多路選擇器相連;待測試超級電容和電子負載通過多路選擇器相連;控制模塊和多路選擇器連接,控制模塊用來定時控制多路選擇器,選擇超級電容單體連接、串聯(lián)、并聯(lián)、混聯(lián)的連接方式,并在充電回路或者放電回路之間切換;采集模塊包括多路采集通道,采集模塊用于采集超級電容的端電壓,電流和溫度;控制模塊和采集模塊分別與上位機相連;充電電路采取恒流轉(zhuǎn)恒壓式充電;電子負載提供超級電容放電回路;上位機顯示超級電容壽命、電壓、荷電狀態(tài)參量;所述多路選擇器用來切換充電回路和放電回路以及實現(xiàn)超級電容之間在單體連接、并聯(lián)連接、串聯(lián)連接以及混聯(lián)連接狀態(tài)下充放電,所述的多路選擇器包括充電電路接口、放電電路接口和多個超級電容接口,各接口均包括兩個可實現(xiàn)電連接的引腳,充電電路接口的兩個引腳和放電電路接口的兩個引腳之間通過第一導線、第二導線連接,第一導線和超級電容接口的第一引腳之間通過第三導線連接,第一導線和第三導線連接形成第一連接點,第二導線和超級電容接口的第二引腳之間通過第四導線連接,第二導線和第四導線連接形成第二連接點;在所述第一導線上,在第三導線與第一導線的第一連接點之間、該第一連接點和充電電路接口之間、該第一連接點和放電電路接口之間均連接繼電器,通過繼電器控制電路的連通和斷開;在該第一連接點和超級電容的第一引腳之間均設(shè)置繼電器;所述第二連接點和超級電容接口的第二引腳之間設(shè)置繼電器,所述超級電容的第二引腳和與之相鄰的另一個超級電容的第一引腳之間設(shè)置繼電器;通過不同繼電器的閉合、斷開控制超級電容之間在單體連接、并聯(lián)連接、串聯(lián)連接以及混聯(lián)連接狀態(tài)下充放電,進行老化測試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超級電容測試裝置,其特征在于,若要實現(xiàn)單體連接充電,閉合單個超級電容的第一引腳和第一導線、第二引腳和第二導線之間的繼電器,閉合該超級電容對應的第一連接點和充電電路接口之間的所有繼電器;若要實現(xiàn)單體連接放電,閉合所述超級電容的第一引腳和第二引腳與第一導線和第二導線之間的繼電器,斷開該超級電容對應的第一連接點和充電電路接口之間的所有繼電器,閉合該超級電容對應的第一連接點和放電電路接口之間的所有繼電器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超級電容測試裝置,其特征在于,若要實現(xiàn)并聯(lián)連接充電,閉合各個需要并聯(lián)的超級電容的第一引腳和第一導線、第二引腳和第二導線之間的繼電器,閉合各個超級電容對應的第一連接點和充電電路接口之間的所有繼電器;若要實現(xiàn)并聯(lián)連接放電,閉合各個超級電容的第一引腳和第一導線、第二引腳和第二導線之間的繼電器,斷開各個超級電容對應的第一連接點和充電電路接口之間的所有繼電器,閉合各個超級電容對應的第一連接點和放電電路接口之間的所有繼電器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超級電容測試裝置,其特征在于,若要實現(xiàn)串聯(lián)連接充電,閉合位于串聯(lián)開始位置的超級電容的第一引腳和第一導線之間的繼電器,閉合串頭位置的超級電容的第一連接點至充電電路接口之間的繼電器,閉合位于串聯(lián)結(jié)尾的超級電容的第二引腳和第二導線之間的繼電器,同時閉合各個相鄰串聯(lián)超級電容的第二引腳和第一引腳之間的繼電器;若要實現(xiàn)串聯(lián)連接放電,閉合位于串聯(lián)開始位置的超級電容的第一引腳和第一導線之間的繼電器,閉合串頭位置的超級電容的第一連接點至放電電路接口之間的繼電器,閉合位于串聯(lián)結(jié)尾的超級電容的第二引腳和第二導線之間的繼電器,同時閉合各個串聯(lián)超級電容的第二引腳和第一引腳之間的繼電器。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超級電容測試裝置,其特征在于,若要實現(xiàn)混聯(lián)連接,多個串聯(lián)后并聯(lián)一個或多個:閉合位于串聯(lián)開始位置即串頭位置的超級電容的第一引腳和第一導線之間的繼電器,閉合串頭位置的超級電容的第一連接點至充電電路接口之間的繼電器,閉合位于串聯(lián)結(jié)尾即串尾的超級電容的第二引腳和第二導線之間的繼電器,同時閉合各個相鄰串聯(lián)超級電容的第二引腳和第一引腳之間的繼電器;將需要并聯(lián)的超級電容器的第一引腳和第一導線、第二引腳和第二導線之間的繼電器閉合,閉合各個超級電容對應的第一連接點和充電電路接口之間的所有繼電器。
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