[發(fā)明專利]非破壞性讀出鐵電存儲(chǔ)器及其制備方法和操作方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510036586.1 | 申請(qǐng)日: | 2015-01-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104637949B | 公開(公告)日: | 2017-11-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 江安全;耿文平;江鈞 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 復(fù)旦大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L27/11507 | 分類號(hào): | H01L27/11507;G11C11/22 |
| 代理公司: | 上海正旦專利代理有限公司31200 | 代理人: | 陸飛,盛志范 |
| 地址: | 200433 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 破壞性 讀出 存儲(chǔ)器 及其 制備 方法 操作方法 | ||
1.一種非破壞性讀出鐵電存儲(chǔ)器,包括第一電極層(107)、第二電極層(103)和設(shè)置在所述第一電極層(107)與第二電極層(103)之間的鐵電薄膜層(105),其特征在于,所述第一電極層(107)中設(shè)置有將其分為至少兩個(gè)部分的間隙(109),所述鐵電薄膜層(105)的電疇(1051,1053)的極化方向不垂直且不平行所述第一電極層(107)的法線方向;
其中,在所述第一電極層(107)中的鄰接所述間隙(109)的兩個(gè)部分之間偏置某一方向的讀信號(hào)時(shí),對(duì)應(yīng)所述間隙(109)的部分所述鐵電薄膜層(105)的電疇局部被反轉(zhuǎn)而建立疇壁導(dǎo)電通道。
2.如權(quán)利要求1所述的非破壞性讀出鐵電存儲(chǔ)器,其特征在于,所述第一電極層中(107)的至少兩個(gè)部分包括第一讀電極部分和第二讀電極部分,所述第一讀電極部分和第二讀電極部分組成讀電極對(duì),所述讀信號(hào)被偏置在所述讀電極對(duì)上。
3.如權(quán)利要求1或2所述的非破壞性讀出鐵電存儲(chǔ)器,其特征在于,在所述第一電極層(107)和第二電極層(103)之間可操作地偏置寫信號(hào)以使所述鐵電薄膜層(105)中的電疇(1051,1053)的極化方向發(fā)生統(tǒng)一地翻轉(zhuǎn)。
4.如權(quán)利要求1或2所述的非破壞性讀出鐵電存儲(chǔ)器,其特征在于,還包括第三電極層(230),所述第三電極層(230)與所述第二電極層(103)相對(duì)地設(shè)置;
其中,在所述第三電極層(230)與所述第二電極層(103)之間可操作地偏置寫信號(hào)以使所述鐵電薄膜層(105)中的電疇(1051,1053)的極化方向發(fā)生統(tǒng)一地翻轉(zhuǎn);
在所述第三電極層(230)與所述第一電極層(107)之間設(shè)置有絕緣介質(zhì)層(210)。
5.如權(quán)利要求1所述的非破壞性讀出鐵電存儲(chǔ)器,其特征在于,所述間隙的間距(d)大于或等于2納米且小于或等于500納米;
所述間隙的寬度(w)大于或等于5納米且小于或等于500納米。
6.如權(quán)利要求1或2或5所述的非破壞性讀出鐵電存儲(chǔ)器,其特征在于,所述間隙的間距(d)小于所述鐵電薄膜層(105)的厚度。
7.如權(quán)利要求1所述的非破壞性讀出鐵電存儲(chǔ)器,其特征在于,還包括基底(100),所述第一電極層(107)或第二電極層(103)設(shè)置在所述基底(100)之上。
8. 如權(quán)利要求1所述的非破壞性讀出鐵電存儲(chǔ)器,其特征在于,所述鐵電薄膜層(105)為鐵酸鉍BiFeO3、摻La的鐵酸鉍鹽(Bi,La) FeO3、鋯鈦酸鉛鹽(Pb,Zr)TiO3或者鈮酸鋰鹽LiNbO3。
9.如權(quán)利要求1所述的非破壞性讀出鐵電存儲(chǔ)器,其特征在于,所述鐵電薄膜層(105)的厚度大于或等于5納米且小于或等于500納米。
10.如權(quán)利要求1所述的非破壞性讀出鐵電存儲(chǔ)器,其特征在于,所述第一電極層(107)的厚度大于或等于5納米且小于或等于100納米。
11.如權(quán)利要求1所述的非破壞性讀出鐵電存儲(chǔ)器,其特征在于,通過控制所述鐵電薄膜層(107)生長(zhǎng)的晶向,以至于所述鐵電薄膜層(105)的電疇(1051,1053)的極化方向不垂直且不平行所述第一電極層(107)的法線方向。
12.如權(quán)利要求1所述的非破壞性讀出鐵電存儲(chǔ)器,其特征在于,所述間隙(109)中被填入或部分填入絕緣介質(zhì)材料。
13.一種如權(quán)利要求1所述的非破壞性讀出鐵電存儲(chǔ)器的制備方法,其特征在于具體步驟包括:
提供基底并在基底上形成第二電極層(103);
形成鐵電薄膜(105);以及
在所述鐵電薄膜層(105)上形成帶有所述間隙(109)的第一電極層(107)。
14. 如權(quán)利要求13所述的制備方法,其特征在于,還包括步驟:
在所述第一電極層(107)上沉積絕緣介質(zhì)層(210);以及
在所述絕緣介質(zhì)層(210)上形成第三電極層(109)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
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