[發(fā)明專利]半球形理想膠結顆粒接觸抗剪、抗彎、抗扭測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510032983.1
• 申請日: 2015-01-22
• 公開（公告）號: CN104614258B
• 公開（公告）日: 2017-11-07
• 發(fā)明（設計）人: 蔣明鏡;金樹樓;劉蔚;張寧
• 申請（專利權）人: 同濟大學
• 主分類號: G01N3/24
• 分類號: G01N3/24;G01N3/20;G01N3/22
• 代理公司: 上?？剖⒅R產(chǎn)權代理有限公司31225
• 代理人: 葉敏華

1.一種半球形理想膠結顆粒接觸抗剪、抗彎、抗扭測試裝置，其特征在于，包括上下對齊的上夾持件(1)與下夾持件(2)，所述的上夾持件(1)包括上頂板(12)與連接在上頂板(12)兩側的兩個上側面板(13)，兩個上側面板(13)與上頂板(12)之間圍合形成上槽口(11)，所述的下夾持件(2)包括下頂板(22)與連接在下頂板(22)兩側的兩個下側面板(23)，兩個下側面板(23)與下頂板(22)之間圍合形成下槽口(21)，所述的上槽口(11)與下槽口(21)相連通，并形成夾持半球形理想膠結顆粒的夾持空間，所述的上夾持件(1)與下夾持件(2)的外側均設有用于施力的施力件(3)；

所述的上頂板(12)與下頂板(22)的中心處均開設有豎直向螺紋通孔(4)；所述的豎直向螺紋通孔(4)內(nèi)設置有對準機構(5)，所述的對準機構(5)伸入到上槽口(11)或下槽口(21)內(nèi)；所述的對準機構(5)為設置在豎直向螺紋通孔(4)內(nèi)的暗螺絲；

所述的上側面板(13)與下側面板(23)上分別設有用于設置暗螺絲的水平向螺紋通孔(6)；

所述的上頂板(12)的外側正中心處設有第一凹槽(71)，其中一個上側面板(13)外側設有第二凹槽(72)、第三凹槽(73)及第四凹槽(74)，其中第二凹槽(72)位于上側面板(13)上部，第三凹槽(73)與第四凹槽(74)位于上側面板(13)下部；另一個上側面板(13)外側設有第六凹槽(76)、第七凹槽(77)及第八凹槽(78)，其中第六凹槽(76)與第七凹槽(77)位于上側面板(13)上部，第八凹槽(78)位于上側面板(13)下部；所述的下頂板(22)的外側正中心處設有第五凹槽(75)；

所述的施力件(3)設置在上述各凹槽內(nèi)。

2.根據(jù)權利要求1所述的一種半球形理想膠結顆粒接觸抗剪、抗彎、抗扭測試裝置，其特征在于，所述的上槽口(11)與下槽口(21)為鏡像對稱結構。

3.根據(jù)權利要求2所述的一種半球形理想膠結顆粒接觸抗剪、抗彎、抗扭測試裝置，其特征在于，所述的上槽口(11)上部為矩形槽，下部為梯形槽，且矩形槽與梯形槽上下貫通。

4.根據(jù)權利要求1所述的一種半球形理想膠結顆粒接觸抗剪、抗彎、抗扭測試裝置，其特征在于，所述的兩個上側面板(13)高度相等，所述的兩個下側面板(23)高度不等，所述的上側面板(13)與下側面板(23)上下對齊，且中間形成兩個高度不等的間隙。

5.根據(jù)權利要求1所述的一種半球形理想膠結顆粒接觸抗剪、抗彎、抗扭測試裝置，其特征在于，所述的施力件(3)包括底座(31)、膠囊形柱體(32)及緊固件(33)，所述的膠囊形柱體(32)垂直固定在底座(31)上，所述的底座(31)通過緊固件(33)固定在各凹槽內(nèi)，所述的膠囊形柱體(32)垂直位于各凹槽的外側。

6.根據(jù)權利要求1所述的一種半球形理想膠結顆粒接觸抗剪、抗彎、抗扭測試裝置，其特征在于，各凹槽形狀均為矩形。