[發(fā)明專利]硬質(zhì)涂膜、透明導(dǎo)電性膜以及電容觸控面板有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510031986.3 | 申請日: | 2015-01-22 |
| 公開(公告)號: | CN104945965B | 公開(公告)日: | 2019-11-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 佐藤慶一;渡邊卓三 | 申請(專利權(quán))人: | 琳得科株式會社 |
| 主分類號: | C09D4/02 | 分類號: | C09D4/02;C09D7/62;G06F3/044 |
| 代理公司: | 72001 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 龐立志;楊思捷<國際申請>=<國際公布> |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 硬質(zhì) 透明 導(dǎo)電性 以及 電容 面板 | ||
1.硬質(zhì)涂膜,其在基材膜的至少單面具備硬質(zhì)涂層,該硬質(zhì)涂膜的特征在于,
所述硬質(zhì)涂膜的根據(jù)JIS K 7105測定的霧度值為1.0%以下,
所述硬質(zhì)涂層由至少包含(A)能量射線固化性樹脂、(B)疏水化硅溶膠、以及(C)有機硅系流平劑的硬質(zhì)涂層形成材料的固化物構(gòu)成,
所述(B)疏水化硅溶膠集中于將所述硬質(zhì)涂層形成材料固化后的所述硬質(zhì)涂層的與所述基材膜相反的表面?zhèn)龋?/p>
所述(B)疏水化硅溶膠的配合量相對于所述(A)能量射線固化性樹脂100重量份以固體成分換算計為0.3~55重量份的范圍內(nèi)的值,
使根據(jù)JIS R 3257測定的水與將所述(B)疏水化硅溶膠制成涂膜時的涂膜的接觸角為100°以上的值,
所述(C)有機硅系流平劑選自有機硅改性丙烯酸樹脂、聚醚改性聚二甲基硅氧烷、聚醚酯改性含羥基聚二甲基硅氧烷、聚酯改性含羥基聚二甲基硅氧烷中的至少1種,
所述(C)有機硅系流平劑的配合量相對于所述(A)能量射線固化性樹脂100重量份以固體成分換算計為0.045~5重量份的范圍內(nèi)的值,
在從所述硬質(zhì)涂膜的最表面至5nm的位置為止的區(qū)域中,相對于利用深度方向的XPS分析測定的碳原子、氧原子、硅原子的總量100atom%,硅原子濃度為0.2~1.95atom%范圍內(nèi)的值。
2.權(quán)利要求1所述的硬質(zhì)涂膜,其特征在于,所述(B)疏水化硅溶膠的平均粒徑為10~100nm的范圍內(nèi)的值。
3.權(quán)利要求1所述的硬質(zhì)涂膜,其特征在于,所述硬質(zhì)涂層的表面的根據(jù)JIS B 0601-1994測定的算術(shù)平均粗糙度Ra為1.5~5nm的范圍內(nèi)的值。
4.透明導(dǎo)電性膜,其特征在于,其在權(quán)利要求1所述的硬質(zhì)涂膜的至少單面具備透明導(dǎo)電層。
5.電容觸控面板,其包含:具備防玻璃飛散膜的蓋板玻璃、第一透明導(dǎo)電性膜、第二透明導(dǎo)電性膜、以及液晶顯示體,該電容觸控面板的特征在于,
所述第一透明導(dǎo)電性膜和所述第二透明導(dǎo)電性膜或者任一者在具有硬質(zhì)涂層的硬質(zhì)涂膜的所述硬質(zhì)涂層上具備透明導(dǎo)電層,
該硬質(zhì)涂膜在基材膜的至少單面具備所述硬質(zhì)涂層,
所述硬質(zhì)涂膜的根據(jù)JIS K 7105測定的霧度值為1.0%以下,
所述硬質(zhì)涂層由至少包含(A)能量射線固化性樹脂、(B)疏水化硅溶膠、以及(C)有機硅系流平劑的硬質(zhì)涂層形成材料的固化物構(gòu)成,
所述(B)疏水化硅溶膠集中于將所述硬質(zhì)涂層形成材料固化后的所述硬質(zhì)涂層的與所述基材膜相反的表面?zhèn)龋?/p>
所述(B)疏水化硅溶膠的配合量相對于所述(A)能量射線固化性樹脂100重量份以固體成分換算計為0.3~55重量份的范圍內(nèi)的值,
使根據(jù)JIS R 3257測定的水與將所述(B)疏水化硅溶膠制成涂膜時的涂膜的接觸角為100°以上的值,
所述(C)有機硅系流平劑選自有機硅改性丙烯酸樹脂、聚醚改性聚二甲基硅氧烷、聚醚酯改性含羥基聚二甲基硅氧烷、聚酯改性含羥基聚二甲基硅氧烷中的至少1種,
所述(C)有機硅系流平劑的配合量相對于所述(A)能量射線固化性樹脂100重量份以固體成分換算計為0.045~5重量份的范圍內(nèi)的值,
在從所述硬質(zhì)涂膜的最表面起至5nm的位置為止的區(qū)域中,相對于利用深度方向的XPS分析測定的碳原子、氧原子、硅原子的總量100atom%,硅原子濃度為0.2~1.95atom%范圍內(nèi)的值。
6.硬質(zhì)涂膜的制造方法,所述硬質(zhì)涂膜在基材膜的至少單面具備硬質(zhì)涂層,該制造方法的特征在于,包括下述工序(1)~(3),
(1)準備硬質(zhì)涂層形成材料的工序,所述硬質(zhì)涂層形成材料至少包含(A)能量射線固化性樹脂、(B)疏水化硅溶膠、以及(C)有機硅系流平劑;
(2)將所述硬質(zhì)涂層形成材料涂布于所述基材膜的至少單面的工序;
(3)使所述硬質(zhì)涂層形成材料固化,根據(jù)JIS K 7105測定的霧度值為1.0%以下,從而形成具備硬質(zhì)涂層的硬質(zhì)涂膜的工序,所述硬質(zhì)涂層中,所述(B)疏水化硅溶膠集中于使所述硬質(zhì)涂層形成材料固化后的所述硬質(zhì)涂層的與所述基材膜相反的表面?zhèn)龋?/p>
所述(B)疏水化硅溶膠的配合量相對于所述(A)能量射線固化性樹脂100重量份以固體成分換算計為0.3~55重量份的范圍內(nèi)的值,
使根據(jù)JIS R 3257測定的水與將所述(B)疏水化硅溶膠制成涂膜時的涂膜的接觸角為100°以上的值,
所述(C)有機硅系流平劑選自有機硅改性丙烯酸樹脂、聚醚改性聚二甲基硅氧烷、聚醚酯改性含羥基聚二甲基硅氧烷、聚酯改性含羥基聚二甲基硅氧烷中的至少1種,
所述(C)有機硅系流平劑的配合量相對于所述(A)能量射線固化性樹脂100重量份以固體成分換算計為0.045~5重量份的范圍內(nèi)的值,
在從所述硬質(zhì)涂膜的最表面至5nm的位置為止的區(qū)域中,相對于利用深度方向的XPS分析測定的碳原子、氧原子、硅原子的總量100atom%,硅原子濃度為0.2~1.95atom%范圍內(nèi)的值。
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