[發明專利]一種太陽能硅片檢測方法有效
| 申請號： | 201510029038.6 | 申請日： | 2015-01-20 |
| 公開（公告）號： | CN104614372B | 公開（公告）日： | 2017-05-03 |
| 發明（設計）人： | 黃遠民;李大成;易銘;李秀忠;方寧 | 申請（專利權）人： | 佛山職業技術學院 |
| 主分類號： | G01N21/88 | 分類號： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 佛山東平知識產權事務所(普通合伙)44307 | 代理人： | 詹仲國 |
| 地址： | 528100 廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 太陽能 硅片 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種太陽能硅片檢測方法，包括：1）圖像采集，其特征在于，采用激光發射器投射到太陽能硅片上，得到相應的人工紋理，并利用兩個相機采集圖像信息；
還包括以下步驟：
2）噪聲去除，利用中值濾波法對采集到圖像進行噪聲的去除；
3）亞像素級圖像獲取，采用Hessian矩陣法獲得潛在亞像素級圖像；
4）提取圖像特征，把彩色圖像轉換成黑白圖像，并對分解的圖像進行閾值設定，通過設定的閥值提取相應區域的圖像特征；
5）計算兩個區域的差異，根據不同區域提取到的圖像特征，計算出兩個區域的差異性；
6）變換圖像形狀，變換圖像形狀同時擴張有圓形特征區域；
7）硅片檢查，選擇帶有一定特征的區域，通過該特征對硅片進行檢查；
8）數據存儲，顯示相應的檢查結果同時把相關缺陷信息保存在相應的數據庫里面。
2.根據權利要求1所述的一種太陽能硅片檢測方法，其特征在于，所述相機為工業CCD相機。
3.根據權利要求1所述的一種太陽能硅片檢測方法，其特征在于，兩個相機通過絲桿與伺服電機連接，并在伺服電機變換拍攝位置。
4.根據權利要求1所述的一種太陽能硅片檢測方法，其特征在于，所述提取圖像特征、計算兩個區域的差異、變換圖像形狀、硅片檢查和數據存儲步驟通過機器視覺軟件來實現。
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