[發明專利]一種基于三維激光掃描技術的結構面測量方法

在審

• 申請號: 201510025427.1
• 申請日: 2015-01-19
• 公開（公告）號: CN104482922A
• 公開（公告）日: 2015-04-01
• 發明（設計）人: 李華
• 申請（專利權）人: 中國電建集團成都勘測設計研究院有限公司
• 主分類號: G01C11/00
• 分類號: G01C11/00
• 代理公司: 成都虹橋專利事務所(普通合伙) 51124
• 代理人: 吳中偉

1.一種基于三維激光掃描技術的結構面測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

A.選定調查窗口；

B.利用三維激光掃描儀掃描調查窗口，獲得調查窗口的點云數據；

C.利用數碼相機拍攝調查窗口，獲得調查窗口的數碼照片；

D.利用點云數據疊加數碼照片還原調查窗口的真實三維影像，并依此勾勒出具體結構面；

E.基于獲取的具體結構面，測量其相關參數。

2.如權利要求1所述的一種基于三維激光掃描技術的結構面測量方法，其特征在于，步驟A中，所述選定調查窗口的方式為：

在平硐內選取5m長，2m高的范圍作為調查窗口。

3.如權利要求1所述的一種基于三維激光掃描技術的結構面測量方法，其特征在于，步驟D中，所述利用點云數據疊加數碼照片還原調查窗口的真實三維影像，并依此勾勒出具體結構面的方法為：

D1.將三維點云及數碼照片疊加形成調查窗口的真彩色三維模型；

D2.根據激光點云中激光點的明暗程度初步確定線狀或面狀的結構面；

D3.對比照數碼照片，勾勒出具體的每一個結構面。

4.如權利要求1所述的一種基于三維激光掃描技術的結構面測量方法，其特征在于，步驟E中，所述相關參數包括：產狀、長度、間距、連通率。

5.如權利要求4所述的一種基于三維激光掃描技術的結構面測量方法，其特征在于，對于產狀的獲取方法：

在確定的結構面上選取3個以上激光點，計算出結構面的產狀。

6.如權利要求4所述的一種基于三維激光掃描技術的結構面測量方法，其特征在于，對于長度的獲取方法：

對于表現為線狀的結構面直接查詢其長度，對于表現為面狀的結構面則測量其最大長度作為其長度。

7.如權利要求4所述的一種基于三維激光掃描技術的結構面測量方法，其特征在于，對于間距的獲取方法：

首先，測量相臨結構面在點云表面的可視間距，然后，根據結構面與點云表面的夾角及結構面可視間距計算結構面的真實間距。

8.如權利要求4所述的一種基于三維激光掃描技術的結構面測量方法，其特征在于，對于連通率的獲取方法：

首先，將各組結構面投影到平洞軸線上，然后，將裂隙的投影長度累加，然后除以調查窗口長度，得到該組裂隙的連通率。