[發明專利]位置檢測裝置、位置檢測系統和位置檢測裝置的控制方法有效
| 申請號: | 201510020488.9 | 申請日: | 2015-01-15 |
| 公開(公告)號: | CN104793810B | 公開(公告)日: | 2019-05-31 |
| 發明(設計)人: | 田村明彥 | 申請(專利權)人: | 精工愛普生株式會社 |
| 主分類號: | G06F3/042 | 分類號: | G06F3/042;G06F3/038 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 李輝;黃綸偉 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 位置 檢測 裝置 系統 控制 方法 | ||
1.一種位置檢測裝置,其特征在于,該位置檢測裝置具備:
光射出部,其將檢測光射到操作面上;
檢測部,其進行利用所述檢測光來檢測指示位置的第1檢測動作和利用所述檢測光以外的光來檢測指示位置的第2檢測動作;以及
校準控制部,其通過利用所述檢測光以外的光檢測實際的指示位置,執行使在所述第2檢測動作中檢測的位置與所述操作面上的位置關聯起來的操作式的校準,
所述校準控制部在所述操作式的校準的執行中限制所述檢測光的射出。
2.根據權利要求1所述的位置檢測裝置,其特征在于,
所述檢測部在所述第1檢測動作中,根據由反射所述檢測光的第1指示體反射的反射光檢測所述第1指示體的指示位置,在所述第2檢測動作中,根據具有發光功能的第2指示體發出的光檢測所述第2指示體的指示位置。
3.根據權利要求2所述的位置檢測裝置,其特征在于,
該位置檢測裝置能夠執行通常動作模式,在該通常動作模式中,所述檢測部與在所述第1檢測動作中檢測的指示位置以及在所述第2檢測動作中檢測的指示位置對應地進行動作,
該位置檢測裝置具備射出控制部,該射出控制部在所述通常動作模式中使所述光射出部以與所述第2指示體的發光不同的發光模式進行發光。
4.根據權利要求2所述的位置檢測裝置,其特征在于,
所述光射出部發出可見區域外的光,
所述檢測部根據所述光射出部發出的可見區域外的光以及所述第2指示體發出的可見區域外的光檢測指示位置。
5.根據權利要求4所述的位置檢測裝置,其特征在于,
該位置檢測裝置是具備向所述操作面投射圖像的投射部的投影儀。
6.根據權利要求5所述的位置檢測裝置,其特征在于,
該位置檢測裝置具備對所述投射部投射的圖像進行拍攝的攝像部,
所述校準控制部根據在由所述投射部投射了校準用的圖像的狀態下所述攝像部所拍攝的拍攝圖像,執行使在所述第2檢測動作中檢測的位置與所述操作面上的位置關聯起來的自動校準,
在所述自動校準的執行中不限制所述檢測光的射出。
7.根據權利要求3所述的位置檢測裝置,其特征在于,
所述光射出部發出可見區域外的光,
所述檢測部根據所述光射出部發出的可見區域外的光以及所述第2指示體發出的可見區域外的光檢測指示位置。
8.根據權利要求7所述的位置檢測裝置,其特征在于,
該位置檢測裝置是具備向所述操作面投射圖像的投射部的投影儀。
9.根據權利要求8所述的位置檢測裝置,其特征在于,
該位置檢測裝置具備對所述投射部投射的圖像進行拍攝的攝像部,
所述校準控制部根據在由所述投射部投射了校準用的圖像的狀態下所述攝像部所拍攝的拍攝圖像,執行使在所述第2檢測動作中檢測的位置與所述操作面上的位置關聯起來的自動校準,
在所述自動校準的執行中不限制所述檢測光的射出。
10.根據權利要求2~9中的任意一項所述的位置檢測裝置,其特征在于,
所述檢測部通過共用的單元來檢測由所述第1指示體反射的反射光以及所述第2指示體發出的光。
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