[發明專利]一種匹配電路確定方法及負載牽引系統有效
| 申請號: | 201510019247.2 | 申請日: | 2015-01-14 |
| 公開(公告)號: | CN104660186B | 公開(公告)日: | 2018-04-03 |
| 發明(設計)人: | 叢密芳;任建偉;李科;杜寰 | 申請(專利權)人: | 上海聯星電子有限公司 |
| 主分類號: | H03F1/56 | 分類號: | H03F1/56;H03F3/189 |
| 代理公司: | 北京華沛德權律師事務所11302 | 代理人: | 劉杰 |
| 地址: | 200120 上海市浦東新*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 匹配 電路 確定 方法 負載 牽引 系統 | ||
技術領域
本發明涉及射頻微波設計、測量領域,尤其涉及一種匹配電路確定方法及負載牽引系統。
背景技術
現有技術中,可以通過多種方式設計射頻功率放大器,例如:
(1)最大增益法:此方法主要是通過矢量網絡分析儀得到被測器件(DUT:device under test)的散射參數(S參數),進而計算出射頻功率放大器的傳輸特性,以最大增益(也即:DUT放大倍數)為目標來設計功率放大器。
(2)負載線法:通過被測器件的靜態電流電壓曲線(IV曲線)確定大信號的負載阻抗,它是被測器件漏極端對輸出匹配電路所呈現的阻抗。通過這種方法,設計者可以優化負載電路,獲得最大的射頻功率輸出。
然而上述第(1)種方案根據功率放大器的小信號(線性區)來確定阻抗值,不能表征功率放大器在大信號(非線性區)的特性,根據此阻抗值做出的匹配電路不適合被測器件高功率輸出狀態,不能發揮功率放大器的最佳性能。
上述第(2)中方案只能表征功放管輸出阻抗值的純實部特征,并且此方法需要測量器件的IV曲線,但針對大功率的功率放大器而言IV曲線不容易得到。并且,當考慮端口反射時,輸出端阻抗的虛部導致阻抗值不準確,最終對設計出的匹配電路無法進行準確調試。
由此可見,現有技術中的方案都存在著無法準確設計出高功率的功率放大器的匹配電路的技術問題。
發明內容
本發明提供一種匹配電路確定方法及負載牽引系統,以解決現有技術中無法準確設計出高功率的功率放大器的匹配電路的技術問題。
第一方面,本發明實施例提供一種匹配電路確定方法,應用于負載牽引系統,所述負載牽引系統中設置有被測器件,所述被測器件的第一端連接有第一測試夾具,所述第一測試夾具外側連接有第一調諧器,所述被測器件的第二端連接有第二測試夾具,所述第二測試夾具外側連接有第二調諧器,所述方法包括:
控制所述第二調諧器連接于所述第二測試夾具的第一阻抗值所在位置;
將所述第一測試夾具替換為第一匹配電路;
多次調整所述第一匹配電路的參數信息,進而分別檢測獲得所述負載牽引系統的多個參數值,所述多個參數值基于所述第一匹配電路的參數信息的變化而變化;
從所述多個參數值中確定出滿足預設條件的第一參數值,所述第一參數值所對應的所述第一匹配電路即為所述第一端的匹配電路。
可選的,所述分別檢測獲得所述負載牽引系統的多個參數值,具體包括:分別檢測獲得所述負載牽引系統的多個射頻參數值;
所述從所述多個參數值中確定出滿足預設條件的第一參數值,具體為:
從所述多個射頻參數值中確定出大于預定值的射頻參數值,所述大于預定值的射頻參數值即為所述第一參數值。
可選的,所述多個射頻參數值中的每個射頻參數值具體為:功率參數、增益參數或效率參數中的一種參數。
可選的,所述分別檢測獲得所述負載牽引系統的多個參數值,具體為:
通過所述第一調諧器檢測獲得多個阻抗值;
所述從所述多個參數值中確定出滿足預設條件的第一參數值,具體為:
確定所述多個阻抗值中每個阻抗值與所述第一阻抗值的差值絕對值進而獲得多個差值絕對值,所述差值絕對值通過以下方式獲得:將對應的阻抗值與所述第一阻抗值相減,然后取絕對值;
從所述多個差值絕對值中確定出最小的一個差值絕對值作為所述第一參數值。
可選的,所述第一端為所述被測器件的輸入端,所述第二端為所述被測器件的輸出端;或
所述第一端為所述被測器件的輸出端,所述第二端為所述被測器件的輸入端。
可選的,所述第一阻抗值相對于入射信號和反射信號之差的波動幅度小于預設閾值。
第二方面,本發明實施例提供一種負載牽引系統,包括:
被測器件;
第一匹配電路,連接于所述被測器件的第一端;
第一調諧器,連接于所述第一測試夾具;
第一功率計,連接于所述第一調諧器外側;
第二測試夾具,連接于所述被測器件的第二端;
第二調諧器,連接于所述第二測試夾具的第一阻抗值所在位置;
第二功率計,連接于所述第二功率計外側;
處理器,連接于所述第一功率計、所述第二功率計、所述第一調諧器、所述第二調諧器,用于在所述第一匹配電路的參數信息多次變化時,檢測獲得所述負載牽引系統的多個參數值,所述多個參數值基于所述第一匹配電路的參數信息的變化而變化;以及
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