[發明專利]屏體檢測結構及檢測方法在審
| 申請號： | 201510018770.3 | 申請日： | 2015-01-15 |
| 公開（公告）號： | CN104635105A | 公開（公告）日： | 2015-05-20 |
| 發明（設計）人： | 姜虎;張雷 | 申請（專利權）人： | 昆山國顯光電有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/02 | 分類號： | G01R31/02;G09G3/00 |
| 代理公司： | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 鄭瑋 |
| 地址： | 215300 江蘇省*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 體檢 結構 檢測 方法 | ||
1.一種屏體檢測結構，包括承載臺及壓頭，所述壓頭與承載臺相對設置且位于所述承載臺上方，其特征在于，所述壓頭包括屏體壓頭和模組壓頭，所述屏體壓頭用于將一屏體檢測線與待測屏體的屏體檢測端壓接，所述模組壓頭用于將一模組檢測線與待測屏體的模組檢測端壓接。
2.如權利要求1所述的屏體檢測結構，其特征在于，所述壓頭還包括一頂板，所述屏體壓頭和模組壓頭設置于所屬頂板上并朝向所述承載臺。
3.如權利要求1所述的屏體檢測結構，其特征在于，所述屏體壓頭包括兩部分，分列于所述模組壓頭兩側。
4.如權利要求3所述的屏體檢測結構，其特征在于，所述模組壓頭與屏體壓頭之間存在小于2mm的間隙。
5.如權利要求4所述的屏體檢測結構，其特征在于，所述壓頭還包括一模組壓頭微調器，以調整模組壓頭的位置。
6.如權利要求1所述的屏體檢測結構，其特征在于，所述壓頭與承載臺能夠相對運動，所述屏體檢測結構還包括一承載臺微調器，用以調整承載臺的位置。
7.一種屏體檢測方法，其特征在于，包括：
提供如權利要求1-6中任意一項所述的屏體檢測結構；
將待測屏體放置于所述承載臺上；
通過所述屏體壓頭將屏體檢測線一端壓接至待測屏體的屏體檢測端進行檢測，所述屏體檢測線的另一端連接至第一檢測設備；
通過所述模組壓頭將模組檢測線一端壓接至待測屏體的模組檢測端進行檢測，所述模組檢測線的另一端連接至第二檢測設備；
分析檢測結果，判斷所述待測屏體是否正常。
8.如權利要求7所述的屏體檢測方法，其特征在于，所述第二檢測設備包括計算機，通過結合檢測卡進行檢測。
9.如權利要求7所述的屏體檢測方法，其特征在于，所述第二檢測設備為檢測芯片或單片機。
10.如權利要求9所述的屏體檢測方法，其特征在于，所述第一檢測設備為信號產生器。
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