[發明專利]應用參數的管理方法、系統及電子裝置在審
| 申請號: | 201510018624.0 | 申請日: | 2015-01-14 |
| 公開(公告)號: | CN104572409A | 公開(公告)日: | 2015-04-29 |
| 發明(設計)人: | 程力行 | 申請(專利權)人: | 東莞宇龍通信科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/32 | 分類號: | G06F11/32 |
| 代理公司: | 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006 | 代理人: | 劉健;梁揮 |
| 地址: | 523500 廣東省東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 應用 參數 管理 方法 系統 電子 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及通信技術領域,尤其涉及一種應用參數的管理方法、系統及電子裝置。
背景技術
隨著電子技術的發展,各種智能電子產品已得到廣泛應用。現有的智能電子產品,比如手機、PDA等通常是以操作系統為基礎安裝很多應用軟件,而這些電子裝置在安裝很多軟件后,隨著使用時間的增長,裝置的反應速度就會變得越來越慢,并且一些電子裝置經常被動安裝一些軟件,安裝的軟件會發生偷跑流量、發廣告等不良現象,使得用戶體驗較差。
綜上可知,現有技術在實際使用上顯然存在不便與缺陷,所以有必要加以改進。
發明內容
針對上述的缺陷,本發明的目的在于提供一種應用參數的管理方法、系統及電子裝置,可以建立良好的應用健康模型,提高用戶的直觀體驗。
為了實現上述目的,本發明提供一種應用參數管理方法,所述方法包括:
獲取若干預設應用的運行參數;
將所述應用的運行參數進行分值量化處理;
將所述應用的運行參數對應的分值顯示處理。
根據本發明的應用參數管理方法,所述應用的運行參數由所述應用的多個運行子參數組成,所述方法還包括:
預設可以被獲取運行參數的若干應用;
對應每個所述應用設置需要獲取的運行子參數,每個所述運行子參數對應一個分值。
根據本發明的應用參數管理方法,所述方法還包括:所述方法還包括:
對應不同的運行子參數設置對應的統計周期或時間段。
根據本發明的應用參數管理方法,所述將所述應用的運行參數進行分值量化處理步驟包括:根據所述應用的各個運行子參數的分值計算獲取所述應用的綜合分值。
根據本發明的應用參數管理方法,所述運行子參數至少包括占用容量、RAM平均使用率、RAM最高使用率、CPU平均占用率、CPU最高占用率、流量消耗、后臺流量消耗、黑屏時流量消耗、耗電量、發消息次數及主動運行時長中的至少一種。
本發明還相應的提供一種應用參數管理系統,包括:
參數獲取模塊,用于獲取若干預設應用的運行參數;
量化處理模塊,用于將所述應用的運行參數進行分值量化處理;
分值顯示模塊,用于將所述應用的運行參數對應的分值顯示處理。
根據本發明的應用參數管理系統,所述應用的運行參數由所述應用的多個運行子參數組成,所述系統還包括:
設置模塊,用于預設可以被獲取運行參數的若干應用,以及對應每個所述應用設置需要獲取的運行子參數,每個所述運行子參數對應一個分值。
根據本發明的應用參數管理系統,所述設置模塊還用于對應不同的運行子參數設置對應的統計周期或時間段。
根據本發明的應用參數管理系統,所述量化處理模塊進一步用于根據所述應用的各個運行子參數的分值計算獲取所述應用的綜合分值。
本發明還提供一種包括如上所述系統的電子裝置。
本發明通過對電子裝置系統的若干應用進行參數獲取,比如運行時的CPU占用率、RAM使用率等,并將這些運行參數進行分值量化處理得到一個分值,然后將這些運行參數的分值以列表形式顯示處理,借此建立良好的健康模型,大大提高用戶的直觀體驗。
附圖說明
圖1是本發明的應用參數管理系統結構示意圖;
圖2是本發明一實施例的應用參數管理系統結構示意圖;
圖3A是本發明一實施例的健康指數顯示示意圖;
圖3B是本發明另一實施例的健康指數顯示示意圖;
圖3C是本發明另一實施例的健康指數顯示示意圖;
圖3D是本發明另一實施例的健康指數顯示示意圖;
圖4是本發明的應用參數管理方法流程圖。
具體實施方式
為了使本發明的目的、技術方案及優點更加清楚明白,以下結合附圖及實施例,對本發明進行進一步詳細說明。應當理解,此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明,并不用于限定本發明。
參見圖1,本發明提供了一種應用參數管理系統,所述系統100可應用于手機、PDA(Personal?Digital?Assistant,個人數字助理)、平板電腦等電子裝置中,該系統100可以是內置于電子裝置的軟件單元,硬件單元或軟硬件結合單元。應用參數管理系統100包括參數獲取模塊10、量化處理模塊20以及分值顯示模塊30,其中:
參數獲取模塊10用于獲取若干預設應用的運行參數。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于東莞宇龍通信科技有限公司,未經東莞宇龍通信科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510018624.0/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:前端的測試方法和裝置
- 下一篇:一種基于ATE的MCU/SOC芯片的測試方法





