[發(fā)明專利]銅互連結(jié)構(gòu)及其形成方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510016296.0 | 申請日: | 2015-01-13 |
| 公開(公告)號: | CN105280613B | 公開(公告)日: | 2018-05-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 余振華;眭曉林;李香寰;葉菁馥 | 申請(專利權(quán))人: | 臺灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/532 | 分類號: | H01L23/532;H01L21/768 |
| 代理公司: | 北京德恒律治知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11409 | 代理人: | 章社杲,李偉 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 互連 結(jié)構(gòu) 及其 形成 方法 | ||
優(yōu)先權(quán)聲明
本申請是要求2012年4月13日提交的美國臨時申請第61/624,154號的優(yōu)先權(quán)的2012年8月15日提交的美國申請第13/586,676號的部分繼續(xù)申請,其全部內(nèi)容結(jié)合于此作為參考。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明總的來說涉及半導(dǎo)體器件的制造,更具體地,涉及銅互連結(jié)構(gòu)及其形成方法。
背景技術(shù)
由于銅能夠提供的快速度,在半導(dǎo)體器件中將銅用作導(dǎo)電互連材料是有利的。通過使用鑲嵌處理技術(shù)形成銅互連結(jié)構(gòu),其中,在介電層中形成開口,在開口內(nèi)沉積銅,然后拋光/平坦化工藝用于去除介電層上方的銅,從而留下嵌入在開口內(nèi)的銅。然而,銅擴散穿過介電材料,所以銅互連結(jié)構(gòu)必須由擴散阻擋層封裝。否則介電層中的擴散的銅金屬可能導(dǎo)致互連結(jié)構(gòu)之間的電流泄漏。擴散阻擋層通常包括耐熱材料。用于阻擋層的典型的耐熱材料包括鉭(Ta)、氮化鉭(TaN)、鈦(Ti)和氮化鈦(TiN)。
研究已經(jīng)推斷出,隨著集成電路(IC)的關(guān)鍵尺寸不斷縮小,在銅和擴散阻擋層之間的連接處會出現(xiàn)縫隙或裂縫。這些縫隙或裂縫導(dǎo)致稱為“電遷移”(EM)和“應(yīng)力遷移”的現(xiàn)象,電遷移和應(yīng)力遷移降低銅互連結(jié)構(gòu)的可靠性。
發(fā)明內(nèi)容
為克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題,本發(fā)明一方面提供了一種半導(dǎo)體器件中的銅互連結(jié)構(gòu),包括:介電層,具有側(cè)壁和表面,側(cè)壁和表面限定介電層中的開口;阻擋層,沉積在介電層的限定開口的側(cè)壁和表面上;阻擋/種子混合層,沉積在阻擋層上;粘合層,沉積在阻擋/種子混合層上;以及種子層,沉積在粘合層上。
根據(jù)本發(fā)明,阻擋/種子混合層包括一種或多種阻擋材料和一種或多種種子材料,其中,一種或多種阻擋材料包括鉭(Ta)、氮化鉭(TaN)、鈦(Ti)、氮化鈦(TiN)、氮化鎢(WN)、鈷(Co)、鈷鎢(CoW)、MnOx、MnNx、MnCx、MnSixOy、其他錳基材料或釕(Ru)的一種或多種,一種或多種種子材料包括銅或銅合金的一種或多種。
根據(jù)本發(fā)明,阻擋/種子混合層包括交互的阻擋材料和種子材料。
根據(jù)本發(fā)明,阻擋/種子混合層包括阻擋材料和種子材料的混合物。
根據(jù)本發(fā)明,阻擋材料和種子材料的混合物包括基底阻擋材料,基底阻擋材料具有沉積在基底阻擋材料中的種子材料。
根據(jù)本發(fā)明,阻擋材料和種子材料的混合物包括基底種子材料,基底種子材料具有沉積在基底晶種材料中的阻擋材料。
根據(jù)本發(fā)明,阻擋層包括鉭(Ta)、氮化鉭(TaN)、鈦(Ti)、氮化鈦(TiN)、氮化鎢(WN)、鈷(Co)、鈷鎢(CoW)、MnOx、MnNx、MnCx、MnSixOy、其他錳基材料或釕(Ru)的一種或多種阻擋材料。
根據(jù)本發(fā)明,阻擋/種子混合層包括一種或多種增強阻擋材料,阻擋/種子混合層的阻擋材料通過等離子體增強沉積工藝來增強。
根據(jù)本發(fā)明,種子層包括銅或銅合金。
根據(jù)本發(fā)明,還包括在開口中沉積的導(dǎo)電插塞。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,提供了一種在半導(dǎo)體器件中形成銅互連結(jié)構(gòu)的方法,該方法包括:在半導(dǎo)體器件的介電層中形成開口,開口由介電層的側(cè)壁和表面限定;在介電層的側(cè)壁和表面上沉積阻擋層;在阻擋層上沉積阻擋/種子混合層;在阻擋/種子混合層上沉積粘合層;以及在粘合層上沉積種子層。
根據(jù)本發(fā)明,阻擋/種子混合層包括一種或多種阻擋材料和一種或多種種子材料,其中,一種或多種阻擋材料包括鉭(Ta)、氮化鉭(TaN)、鈦(Ti)、氮化鈦(TiN)、氮化鎢(WN)、鈷(Co)、鈷鎢(CoW)、MnOx、MnNx、MnCx、MnSixOy、其他錳基材料或釕(Ru)的一種或多種,一種或多種種子材料包括銅或銅合金的一種或多種。
根據(jù)本發(fā)明,阻擋/種子混合層包括交互的阻擋材料和種子材料,通過交互的阻擋材料和種子材料沉積工藝來沉積阻擋/種子混合層。
根據(jù)本發(fā)明,阻擋/種子混合層包括阻擋材料和種子材料的混合物。
根據(jù)本發(fā)明,阻擋材料和種子材料的混合物包括基底阻擋材料,基底阻擋材料具有通過沉積工藝沉積在基底阻擋材料中的種子材料。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于臺灣積體電路制造股份有限公司,未經(jīng)臺灣積體電路制造股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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