[發明專利]基于表面增強拉曼光譜的單顆粒表面污染物現場定量檢測方法在審
| 申請號: | 201510014349.5 | 申請日: | 2015-01-12 |
| 公開(公告)號: | CN104502327A | 公開(公告)日: | 2015-04-08 |
| 發明(設計)人: | 王飛;龍億濤;邱陽;付鵬波;汪華林 | 申請(專利權)人: | 華東理工大學 |
| 主分類號: | G01N21/65 | 分類號: | G01N21/65 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司31100 | 代理人: | 項丹 |
| 地址: | 200237上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 表面 增強 光譜 顆粒 污染物 現場 定量 檢測 方法 | ||
1.一種基于表面增強拉曼光譜的單顆粒表面污染物現場定量檢測方法,該方法包括:
(a)建立一條顆粒表面吸附污染物的質量與污染物特征峰處表面增強拉曼光譜強度的標定曲線,包括以下步驟:(1)用制備好的具有表面增強拉曼光譜活性的多孔顆粒吸附廢水中不同濃度的污染物;(2)采用氣相色譜質譜聯用技術分析吸附前后廢水中污染物濃度變化,以準確測得具有表面增強拉曼光譜活性的多孔顆粒表面吸附的污染物質量;(3)用表面增強拉曼光譜直接檢測顆粒表面污染物以獲得對應的表面增強拉曼光譜譜圖,從而得到特征峰處表面增強拉曼光譜強度;(4)結合上述兩種檢測結果建立一條標定曲線,為后續現場定量檢測顆粒表面污染物做準備;
(b)現場采用便攜式拉曼光譜儀對具有表面增強拉曼光譜活性的吸附污染物的單顆粒表面進行表面增強拉曼光譜檢測,從而得到污染物特征峰處表面增強拉曼光譜強度;以及
(c)將檢測的污染物表面增強拉曼光譜特征峰強度與上述步驟(a)中得到的標定曲線對照,即可得到顆粒表面吸附的污染物質量。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述具有表面增強拉曼光譜活性的多孔顆粒表面修飾了貴金屬納米顆粒,所述貴金屬納米顆粒的粒徑為70-100nm。
3.如權利要求2所述的方法,其特征在于,所述貴金屬納米顆粒為銀納米顆粒,粒徑為70nm。
4.如權利要求1-3中任一項所述的方法,其特征在于,所述多孔顆粒選自活性炭多孔顆粒、聚合樹脂多孔顆粒、活性氧化鋁多孔顆粒、沸石和分子篩。
5.如權利要求4所述的方法,其特征在于,所述多孔顆粒為活性氧化鋁多孔顆粒,其顆粒比表面積為371.14m2/g。
6.如權利要求1-3中任一項所述的方法,其特征在于,所述污染物是具有表面增強拉曼光譜響應的水溶性物質。
7.如權利要求1-3中任一項所述的方法,其特征在于,所述表面增強拉曼光譜檢測過程中的激光強度小于30mW,積分時間小于30s。
8.如權利要求1-3中任一項所述的方法,其特征在于,所述污染物特征峰能夠代表該物質本身的特殊官能團或化學鍵。
9.如權利要求1-3中任一項所述的方法,其特征在于,所述標定曲線為污染物特征峰強度與顆粒表面吸附的污染物質量的雙對數曲線。
10.如權利要求1-3中任一項所述的方法,其特征在于,檢測到的單顆粒表面吸附污染物的檢測質量達到7.8ng。
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