[發(fā)明專利]測試數(shù)據(jù)深度溯源的方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510012571.1
• 申請日: 2015-01-09
• 公開（公告）號: CN104597392A
• 公開（公告）日: 2015-05-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 蘇濤;張志勇;王華;凌儉波;王錦;郝丹丹
• 申請（專利權(quán)）人: 上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237
• 代理人: 周耀君

1.一種測試數(shù)據(jù)深度溯源的方法，其特征在于，包括以下步驟：

實時的從服務(wù)器上獲取與被測產(chǎn)品相關(guān)的信息；

通過正則表達式讀取從所述服務(wù)器上獲取的所述信息，并將所述信息里的關(guān)鍵信息分類存儲，并繪制良率圖；

根據(jù)所述良率圖獲取所述被測產(chǎn)品的良率、失效分布狀況、所述被測產(chǎn)品上失效芯片的具體失效信息以及所述被測產(chǎn)品上通過測試的芯片的具體信息。

2.如權(quán)利要求1所述的測試數(shù)據(jù)深度溯源的方法，其特征在于，所述與被測產(chǎn)品相關(guān)的信息包括：晶圓的批號、晶圓編號、測試開始時間、結(jié)束時間、測試數(shù)據(jù)、芯片的分類結(jié)果等。

3.如權(quán)利要求2所述的測試數(shù)據(jù)深度溯源的方法，其特征在于，在生產(chǎn)測試過程中，所述與被測產(chǎn)品相關(guān)的信息被測試機自動上傳到所述服務(wù)器。

4.如權(quán)利要求2所述的測試數(shù)據(jù)深度溯源的方法，其特征在于，將獲取的所述與被測產(chǎn)品相關(guān)的信息存儲于終端的寄存器中。

5.如權(quán)利要求1所述的測試數(shù)據(jù)深度溯源的方法，其特征在于，通過網(wǎng)絡(luò)實時的從所述服務(wù)器上獲取與所述被測產(chǎn)品相關(guān)的信息。

6.如權(quán)利要求1所述的測試數(shù)據(jù)深度溯源的方法，其特征在于，所述關(guān)鍵信息包括：坐標、芯片的分類結(jié)果、良率、測試項名稱、測試序號、site編號、測試結(jié)果、管腳、通道、閾值、測量值、激勵電壓或者電流、測試向量。

7.如權(quán)利要求6所述的測試數(shù)據(jù)深度溯源的方法，其特征在于，將所述關(guān)鍵信息存儲于終端的寄存器中。

8.如權(quán)利要求1所述的測試數(shù)據(jù)深度溯源的方法，其特征在于，所述具體失效信息包括：測試項名稱、測試序號、site編號、測試結(jié)果、管腳、通道、閾值、測量值、激勵電壓或者電流、測試向量。

9.如權(quán)利要求8所述的測試數(shù)據(jù)深度溯源的方法，其特征在于，將所述具體失效信息存儲于終端的寄存器中。

10.如權(quán)利要求1所述的測試數(shù)據(jù)深度溯源的方法，其特征在于，根據(jù)上述具體失效信息對所述失效芯片進行失效分析。