[發(fā)明專利]一種測試儀表，及其測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510011727.4
• 申請日: 2015-01-09
• 公開（公告）號: CN104601227B
• 公開（公告）日: 2018-02-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 朱天全;鮑勝青;趙軍亮
• 申請（專利權(quán)）人: 北京奧普維爾科技有限公司
• 主分類號: H04B10/071
• 分類號: H04B10/071
• 代理公司: 北京愛普納杰專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙)11419
• 代理人: 何自剛

1.一種測試儀表，其特征在于，包括：控制測試單元、數(shù)據(jù)分析單元、數(shù)據(jù)存儲單元、光纜測試單元、光纖測試單元和顯示單元，其中，

所述控制測試單元，用于接收測試指令，將該測試指令轉(zhuǎn)換成數(shù)據(jù)信息，并將該數(shù)據(jù)信息發(fā)送至所述數(shù)據(jù)分析單元；

所述數(shù)據(jù)分析單元，用于接收所述控制測試單元發(fā)送的數(shù)據(jù)信息并將該數(shù)據(jù)信息轉(zhuǎn)換為操作指令，發(fā)送至所述光纜測試單元或所述光纖測試單元，和/或用于接收所述光纜測試單元或所述光纖測試單元的測試結(jié)果并轉(zhuǎn)換成測試數(shù)據(jù)發(fā)送至所述數(shù)據(jù)存儲單元和所述顯示單元；

所述光纜測試單元，用于檢測出光纖故障所在的光纜，并將光纜測試結(jié)果發(fā)送至所述數(shù)據(jù)分析單元；所述光纜測試單元，包括：第一激光模塊，第一脈沖發(fā)生模塊，光干涉模塊，第一光電轉(zhuǎn)換模塊，第一模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊，其中，所述第一脈沖發(fā)生模塊，用于與所述數(shù)據(jù)分析單元連接，使所述數(shù)據(jù)分析單元控制第一脈沖發(fā)生模塊發(fā)出設(shè)定脈寬的第一電信號和第二電信號；所述第一激光模塊，用于將所述第一電信號轉(zhuǎn)換成第一光信號發(fā)送至光纖后再傳送至光干涉模塊，將所述第二電信號轉(zhuǎn)換成第二光信號發(fā)送至光干涉模塊；所述光干涉模塊，用于接收所述第一光信號和第二光信號，使所述第一光信號和第二光信號發(fā)生光干涉并將光干涉信號發(fā)送至第一光電轉(zhuǎn)換模塊；所述第一光電轉(zhuǎn)換模塊，用于將光干涉模塊產(chǎn)生的光干涉信號轉(zhuǎn)換成模擬信號；所述第一模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊，用于將所述模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號發(fā)送到數(shù)據(jù)分析單元，以確定光纖故障所在的光纜；

所述光纖測試單元，用于檢測出光纖故障在光纖中的位置，并將光纖測試結(jié)果發(fā)送至所述數(shù)據(jù)分析單元；

所述數(shù)據(jù)存儲單元，用于對光纜測試數(shù)據(jù)和光纖測試數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲；

所述顯示單元，用于顯示光纖測試數(shù)據(jù)和光纜測試數(shù)據(jù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試儀表，其特征在于，所述光纖測試單元，包括：第二激光模塊，第二脈沖發(fā)生模塊，第二光電轉(zhuǎn)換模塊與第二模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊，其中，

所述第二脈沖發(fā)生模塊，用于與所述數(shù)據(jù)分析單元連接，使所述數(shù)據(jù)分析單元控制第二脈沖發(fā)生模塊發(fā)出設(shè)定脈寬的電信號；

所述第二激光模塊，用于將所述電信號轉(zhuǎn)換成光信號發(fā)送到光纖中；

所述第二光電轉(zhuǎn)換模塊，用于將光纖中反射回來的信號轉(zhuǎn)換成模擬信號；

所述第二模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊，用于將所述模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號發(fā)送到數(shù)據(jù)分析單元，以獲取光纖長度，動態(tài)范圍，和盲區(qū)的測量數(shù)據(jù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試儀表，其特征在于，所述數(shù)據(jù)分析單元，進(jìn)一步為：單片機(jī)、CPU中央處理器或微處理器。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試儀表，其特征在于，所述數(shù)據(jù)存儲單元，進(jìn)一步為：硬盤、ROM存儲器、RAM存儲器或光盤。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試儀表，其特征在于，所述光纜測試單元和/或者光纖測試單元，還包括：按鍵操控模塊。

6.一種測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1：控制測試單元接收測試指令，將該測試指令轉(zhuǎn)換成數(shù)據(jù)信息，并將該數(shù)據(jù)信息發(fā)送至數(shù)據(jù)分析單元；

步驟2：所述數(shù)據(jù)分析單元接收所述控制測試單元發(fā)送的數(shù)據(jù)信息并將該數(shù)據(jù)信息轉(zhuǎn)換為操作指令，發(fā)送至光纜測試單元；

步驟3：所述光纜測試單元檢測出光纖故障所在的光纜，并將光纜測試結(jié)果發(fā)送至所述數(shù)據(jù)分析單元；

步驟3.1：第一脈沖發(fā)生模塊與所述數(shù)據(jù)分析單元建立連接，使所述數(shù)據(jù)分析單元控制第一脈沖發(fā)生模塊發(fā)出設(shè)定脈寬的第一電信號和第二電信號；

步驟3.2：第一激光模塊將所述第一電信號轉(zhuǎn)換成第一光信號發(fā)送至光纖后再傳送至光干涉模塊，并將所述第二電信號轉(zhuǎn)換成第二光信號發(fā)送至光干涉模塊；

步驟3.3：所述光干涉模塊接收所述第一光信號和第二光信號，使所述第一光信號和第二光信號發(fā)生光干涉并將光干涉信號發(fā)送至第一光電轉(zhuǎn)換模塊；

步驟3.4：所述第一光電轉(zhuǎn)換模塊將光干涉信號轉(zhuǎn)換成模擬信號；

步驟3.5：第一模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊將所述模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號發(fā)送到數(shù)據(jù)分析單元，以確定光纖故障所在的光纜；

步驟4：所述數(shù)據(jù)分析單元接收所述光纜測試單元的測試結(jié)果并轉(zhuǎn)換成測試數(shù)據(jù)發(fā)送至顯示單元；

步驟5：數(shù)據(jù)存儲單元，對光纜測試數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲。

7.一種測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟a：控制測試單元接收測試指令，將該測試指令轉(zhuǎn)換成數(shù)據(jù)信息，并將該數(shù)據(jù)信息發(fā)送至數(shù)據(jù)分析單元；

步驟b：所述數(shù)據(jù)分析單元接收所述控制測試單元發(fā)送的數(shù)據(jù)信息并將該數(shù)據(jù)信息轉(zhuǎn)換為操作指令，發(fā)送至光纖測試單元；

步驟c：所述光纖測試單元檢測出光纖故障在光纖中的位置，并將光纖測試結(jié)果發(fā)送至所述數(shù)據(jù)分析單元；

步驟c1：第二脈沖發(fā)生模塊與所述數(shù)據(jù)分析單元建立連接，使所述數(shù)據(jù)分析單元控制第二脈沖發(fā)生模塊發(fā)出設(shè)定脈寬的電信號；

步驟c2：第二激光模塊將所述電信號轉(zhuǎn)換成光信號發(fā)送到光纖中；

步驟c3：第二光電轉(zhuǎn)換模塊將光纖中反射回來的信號轉(zhuǎn)換成模擬信號；

步驟c4：第二模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊將所述模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號發(fā)送到數(shù)據(jù)分析單元，以獲取光纖長度，動態(tài)范圍，和盲區(qū)的測量數(shù)據(jù)；

步驟e：所述數(shù)據(jù)分析單元接收所述光纖測試單元的測試結(jié)果并將測試結(jié)果轉(zhuǎn)換成測試數(shù)據(jù)發(fā)送至顯示單元；

步驟d：數(shù)據(jù)存儲單元對光纖測試數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲。