[發明專利]檢測裝置及檢測方法

有效

• 申請號: 201510010372.7
• 申請日: 2015-01-09
• 公開（公告）號: CN105816183B
• 公開（公告）日: 2017-12-05
• 發明（設計）人: 浦大鈞;吳俊熠;郭彥良
• 申請（專利權）人: 宏達國際電子股份有限公司
• 主分類號: A61B5/113
• 分類號: A61B5/113;G01S13/02
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所11105
• 代理人: 王珊珊

技術領域

本發明涉及一種檢測裝置，特別涉及一種雷達檢測裝置。

背景技術

傳統雷達系統可用于檢測一待測物，但若欲同時檢測待測物上的不同區域，則此雷達系統內必須配置多組天線和多個收發器，造成設計成本上升。另外，電磁波的多重路徑衰減(Multipath Fading)亦會影響雷達系統進行檢測時的準確度。有鑒于此，有必要設計一種全新的檢測裝置，以克服傳統雷達系統的缺點。

發明內容

在優選實施例中，本發明提供一種檢測裝置，適用于檢測一待測物，包括：一第一天線元件；一第二天線元件；一第一收發器，具有一第一發射端口和一第一接收端口；一第二收發器，具有一第二發射端口和一第二接收端口；一第一循環器，耦接至該第一接收端口、該第二發射端口，以及該第一天線元件；以及一第二循環器，耦接至該第一發射端口、該第二接收端口，以及該第二天線元件；其中該第一收發器先通過該第二循環器和該第二天線元件朝向該待測物發射一第一電磁信號，之后該第一收發器再通過該第一天線元件和該第一循環器由該待測物處接收一第一反射信號；其中該第二收發器先通過該第一循環器和該第一天線元件朝向該待測物發射一第二電磁信號，之后該第二收發器再通過該第二天線元件和該第二循環器由該待測物處接收一第二反射信號。

在一些實施例中，該第一循環器和該第二循環器各自為一三端口元件，并用于執行一輸入輸出轉換程序。在一些實施例中，該三端口元件具有一第一端口、一第二端口，以及一第三端口，其中當執行該輸入輸出轉換程序時，輸入該第一端口的信號將由該第二端口輸出，輸入該第二端口的信號將由該第三端口輸出，而輸入該第三端口的信號將由該第一端口輸出。在一些實施例中，該第二天線元件朝向該待測物上的一第一區域發射該第一電磁信號，而該第一天線元件朝向該待測物上的一第二區域發射該第二電磁信號。在一些實施例中，該第二區域異于該第一區域。在一些實施例中，該第一天線元件和該第二天線元件各自為一非等向性天線。在一些實施例中，該第二天線元件的主波束方向指向該第一區域。在一些實施例中，該第二天線元件的零點方向指向該第二區域。在一些實施例中，該第一天線元件的主波束方向指向該第二區域。在一些實施例中，該第一天線元件的零點方向指向該第一區域。

在優選實施例中，本發明提供一種檢測方法，包括下列步驟：提供一第一天線元件、一第二天線元件、一第一收發器、一第二收發器、一第一循環器，以及一第二循環器，其中該第一循環器耦接至該第一收發器的一第一接收端口、該第二收發器的一第二發射端口，以及該第一天線元件，而其中該第二循環器耦接至該第一收發器的一第一發射端口、該第二收發器的一第二接收端口，以及該第二天線元件；使用該第一收發器，通過該第二循環器和該第二天線元件朝向該待測物發射一第一電磁信號；使用該第一收發器，通過該第一天線元件和該第一循環器由該待測物處接收一第一反射信號；使用該第二收發器，通過該第一循環器和該第一天線元件朝向該待測物發射一第二電磁信號；以及使用該第二收發器，通過該第二天線元件和該第二循環器由該待測物處接收一第二反射信號。

附圖說明

圖1是顯示根據本發明一實施例所述的檢測裝置的示意圖；

圖2是顯示根據本發明一實施例所述的第一循環器或第二循環器的示意圖；

圖3是顯示根據本發明一實施例所述的天線場型和待測物的關系的示意圖；

圖4是顯示根據本發明一實施例所述的檢測方法的流程圖。

【符號說明】

100～檢測裝置；110～第一天線元件；

120～第二天線元件；130～第一收發器；

140～第二收發器；150～第一循環器；

160～第二循環器；170～待測物；

171～第一區域；172～第二區域；

310～第一天線輻射場型；320～第二天線輻射場型；

ST1～第一電磁信號；SR1～第一反射信號；

ST2～第二電磁信號；SR2～第二反射信號；

TX1～第一發射端口；RX1～第一接收端口；

TX2～第二發射端口；RX2～第二接收端口；

MG1～第一主波束；MG2～第二主波束；

SG1～第一次波束；SG2～第二次波束；

NG1～第一零點；NG2～第二零點；

P1～第一端口； P2～第二端口；

P3～第三端口； S1、S2、S3～信號。

具體實施方式