[發明專利]用于減少天線中的PIM的間隔件

有效

• 申請號: 201480082568.0
• 申請日: 2014-10-10
• 公開（公告）號: CN106797068B
• 公開（公告）日: 2019-04-19
• 發明（設計）人: 約翰·奧伯邁爾
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H01Q1/24
• 分類號: H01Q1/24;H01Q1/42
• 代理公司: 深圳市深佳知識產權代理事務所(普通合伙) 44285
• 代理人: 王仲凱

本發明提供了一種布置在天線(100)的框架(103)與反射器(102)之間的間隔件(101)。間隔件(101)構造成在反射器(102)插入到天線(100)的外殼中時分隔反射器(102)與框架(103)；并且當反射器(102)附接到框架(103)時，間隔件(101)允許反射器(102)的至少一個接觸區域(104)接觸框架(103)的至少一個接觸區域(605)。當反射器(102)插入到外殼中時，間隔件(101)的表面選擇成使得防止框架(103)的磨損。本發明還提供了一種天線(100)，天線(100)包括位于框架(103)與反射器(102)之間的間隔件(101)，以及提供了一種組裝此天線(100)的方法(1000)。

技術領域

本發明涉及布置在天線的框架與反射器之間的間隔件、包括該間隔件的天線以及通過利用該間隔件來組裝該天線的方法。具體而言，本發明所提出的間隔件還稱為無源互調(Passive Inter Modulation，PIM)靴，其目的是解決天線組裝期間產生的PIM問題。

背景技術

對于天線，尤其是對于基站天線，高性能的一個關鍵標準是低PIM水平。對于基站天線，所要求的PIM水平的行業標準例如為低于-150dBc。另外，PIM水平的長期穩定性是必需的。

過高的PIM水平會導致天線的嚴重退化，從而導致網絡性能的嚴重退化。因此，在安裝基站天線時，通常會測量PIM水平。客戶因此有可能識別出有問題的PIM水平。

天線中的PIM有若干源，這些源在當前技術中是已知的。例如，PIM的一個重要源是組裝好的天線內的松散金屬微粒。松散金屬微粒導致低且不穩定的PIM性能。更糟的是，如果這種松散金屬微粒是PIM的源，那么，由于天線的振動或運輸以及松散金屬微粒的不可避免的移動，PIM水平甚至會隨機變化。因此，天線性能也將隨機變化。這種影響甚至會發生在存量上。

松散金屬微粒可以為，例如，焊位沙孔、由研磨或沖壓而產生的碎屑、壓鑄毛刺，或可以由從外部帶到天線中的污染引起。另外，松散金屬微粒可由磨損——即，在金屬件彼此接觸而滑動或在磨損表面上滑動時——引起。

如圖11所示，在常規基站天線1100的組裝過程中，所有相關部件1104都固定到反射器1102。固定操作包括例如螺絲固定、卡扣和焊接。通常情況下，這些固定操作不會引起金屬部件之間的任何移動，因此通常不存在產生松散金屬微粒的磨損風險。

然而，在常規天線1100的組裝過程的最終步驟之一中，具有所有部件1104的反射器1102將被推入到天線外殼1101中，如圖11所示。天線外殼1101通常包括由纖維增強塑料制成的前側1105和后側上的鋁框1106。結果是，當推動反射器1102時，布置在反射器1102與天線外殼1001之間的金屬反射器支腳1103在鋁框1106上滑動。這導致框架1106和反射器支腳1103各自的磨損，因此天線組裝后在天線內產生松散金屬微粒。

常規解決方案提出在天線組裝的滑動步驟期間通過使用箔片來防止這種金屬磨損，該箔片在天線組裝之前添加到反射器支腳中。然而，這種常規方法的缺點在于，將反射器螺釘固定到框架的螺釘的力必然會引起箔片的變形。因此，螺釘的預張力減小，螺釘在動態負載下將松動。

因此，一方面，天線可能掉落。另一方面，天線中的螺釘連接始終設計為按壓接觸，因為只有這種按壓接觸才具有穩定的PIM。然而，電流穿過螺紋或松動的螺釘時將產生PIM。因此，常規方法并不是非常適合解決上述問題。

發明內容

鑒于上述缺點和問題，本發明旨在改進當前技術。具體而言，本發明的目的是提供一種通過降低天線的PIM水平來改善天線性能的構思。具體而言，本發明期望避免天線組裝后天線內的松散金屬微粒，或至少顯著減少所述松散金屬微粒的數量。因此，本發明解決這種松散金屬微粒的起因，也就是在組裝期間彼此接觸而滑動的表面之間的磨損。換言之，本發明涉及避免磨損或金屬件之間的滑動接觸。