[發明專利]質譜分析裝置有效

申請號：	201480082024.4	申請日：	2014-09-17
公開（公告）號：	CN106716121B	公開（公告）日：	2019-04-19
發明（設計）人：	朝野夏世	申請（專利權）人：	株式會社島津制作所
主分類號：	G01N27/62	分類號：	G01N27/62;H01J49/10;H01J49/42
代理公司：	上海華誠知識產權代理有限公司 31300	代理人：	肖華
地址：	日本京都府京都***	國省代碼：	日本;JP
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摘要：
搜索關鍵詞：	譜分析裝置
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【權利要求書】：

1.一種質譜分析裝置，其具備：離子源，其將試樣中的化合物離子化；質量分離部，其根據質荷比來分離來源于化合物的離子；以及檢測部，其檢測根據質荷比而分離后的離子，所述質譜分析裝置反復執行如下循環：進行測定對象的離子不同的多個SIM測定、或者作為測定對象的前體離子與產物離子的組合即MRM轉換不同的多個MRM測定的循環，所述SIM指選擇離子監測，所述MRM指多反應監測，該質譜分析裝置的特征在于，包括：

a)信息收集部，其收集關于任意測定時間范圍內的1循環中所執行的多個SIM測定對象的離子或者多個MRM測定對象的MRM轉換的信息；以及

b)測定順序決定部，其決定在1循環中執行針對不同離子的SIM測定或者針對不同MRM轉換的MRM測定的順序，該測定順序決定部通過如下操作來決定1循環中的測定順序：按照分別適于這些離子或MRM轉換的對所述離子源的外加電壓的每一極性，對由所述信息收集部收集到的1循環中的針對多個SIM測定對象的離子或者多個MRM測定対象的MRM轉換的測定進行匯集，之后在相同極性中按照所述外加電壓的絕對值對測定的順序進行重新排序。

2.根據權利要求1所述的質譜分析裝置，其特征在于，

所述測定順序決定部在相同極性中以所述外加電壓的絕對值從低依序升高的方式對測定的順序進行重新排序。

3.根據權利要求1所述的質譜分析裝置，其特征在于，

還包括控制部，所述控制部以按照由所述測定順序決定部決定的測定順序來執行SIM測定或MRM測定的方式控制各部。

4.根據權利要求2所述的質譜分析裝置，其特征在于，

還包括控制部，所述控制部以按照由所述測定順序決定部決定的測定順序來執行SIM測定或MRM測定的方式控制各部。

5.根據權利要求1～4中任一項所述的質譜分析裝置，其特征在于，

所述信息收集部包括信息指定部，所述信息指定部供分析人員指定欲在1循環中執行的多個SIM測定對象離子或多個MRM轉換。

6.根據權利要求1～4中任一項所述的質譜分析裝置，其特征在于，

所述離子源為包括使試樣溶液一邊帶電一邊噴霧至大氣環境中的噴嘴的電噴霧離子化法中使用的離子源，所述外加電壓為施加至所述噴嘴的電壓。

7.根據權利要求5所述的質譜分析裝置，其特征在于，

所述離子源為包括使試樣溶液一邊帶電一邊噴霧至大氣環境中的噴嘴的電噴霧離子化法中使用的離子源，所述外加電壓為施加至所述噴嘴的電壓。