[發(fā)明專利]利用納米細孔的目標檢測有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201480079883.8 | 申請日： | 2014-07-11 |
| 公開（公告）號： | CN106471369B | 公開（公告）日： | 2019-11-15 |
| 發(fā)明（設計）人： | T·J·莫林;D·赫勒;W·杜恩巴 | 申請（專利權）人： | 奧特拉公司 |
| 主分類號： | G01N33/487 | 分類號： | G01N33/487;C12Q1/6816 |
| 代理公司： | 11256 北京市金杜律師事務所 | 代理人： | 陳文平;徐志明<國際申請>=PCT/US |
| 地址： | 美國加利*** | 國省代碼： | 美國;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 利用 納米 細孔 目標 檢測 | ||
【說明書】：
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