[發(fā)明專利]用于檢測顆粒的檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201480076186.7 | 申請日： | 2014-12-10 |
| 公開（公告）號： | CN106257998B | 公開（公告）日： | 2020-01-21 |
| 發(fā)明（設計）人： | J.H.M.內(nèi)伊澤恩;J.J.H.B.施雷彭 | 申請（專利權(quán)）人： | 皇家飛利浦有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/27 | 分類號： | G01N21/27;G01N21/55;G02B21/18;G01N35/00 |
| 代理公司： | 72001 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 江鵬飛;景軍平 |
| 地址： | 荷蘭艾*** | 國省代碼： | 荷蘭;NL |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 檢測 顆粒 裝置 | ||
【權(quán)利要求書】：
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