[發(fā)明專利]創(chuàng)新納米孔測序技術(shù)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201480074150.5 | 申請日： | 2014-11-26 |
| 公開（公告）號： | CN106255551B | 公開（公告）日： | 2021-12-24 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | S.R.J.布呂克;J.S.愛德華茲;A.諾伊曼;Y.庫斯內(nèi)特索瓦;E.A.門多扎 | 申請（專利權(quán)）人： | STC.UNM公司 |
| 主分類號： | B01L3/00 | 分類號： | B01L3/00;C12M1/34;C12Q1/6869;G01N21/64 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 初明明;黃希貴 |
| 地址： | 美國新*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 創(chuàng)新 納米 孔測序 技術(shù) | ||
【權(quán)利要求書】：
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