[發(fā)明專利]用于減少轉(zhuǎn)子速度測(cè)量中誤差的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201480061762.0
• 申請(qǐng)日: 2014-11-07
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN105705951B
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-03-31
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: J.S.里奧羅;D.A.布拉福德
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 通用電氣公司
• 主分類號(hào): G01P3/481
• 分類號(hào): G01P3/481;G01P3/488;G01P3/489
• 代理公司: 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 嚴(yán)志軍;周心志

1.一種測(cè)量轉(zhuǎn)子速度的方法，包括：

將傳感器(602)定位成與目標(biāo)(12)相對(duì)，所述目標(biāo)包括多個(gè)特征(14)，所述目標(biāo)(12)的特征(14)被所述傳感器所檢測(cè)；

其中，所述目標(biāo)包括至少一個(gè)幾何瑕疵；

測(cè)量(604)與經(jīng)過(guò)所述傳感器的所述目標(biāo)上的所述多個(gè)特征中的各個(gè)之間的時(shí)間(122，124，126)對(duì)應(yīng)的周期；

形成所述周期的陣列(620)，所述陣列包括直到預(yù)選數(shù)目的所述周期；

當(dāng)加入新的周期且達(dá)到所述預(yù)選數(shù)目的周期時(shí)，從所述陣列(606)除去老的周期；

從所述陣列中的所述周期的子集來(lái)計(jì)算平均周期(608)，所述平均周期對(duì)應(yīng)于一次完整回轉(zhuǎn)或多次完整回轉(zhuǎn)中的一者；和

從所述平均周期計(jì)算轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)速度(612)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括通過(guò)從所述目標(biāo)的一次完整回轉(zhuǎn)或多次完整回轉(zhuǎn)中的一者求所述周期的平均值來(lái)補(bǔ)償所述至少一個(gè)幾何瑕疵。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述幾何瑕疵特征引起所述周期的測(cè)量結(jié)果中的不一致。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述至少一個(gè)幾何瑕疵包括相鄰的所述特征之間的不一致的角間隔(117，119)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述至少一個(gè)幾何瑕疵包括所述特征中的具有不一致的徑向高度(220)的至少一個(gè)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述至少一個(gè)幾何瑕疵包括具有不對(duì)稱中心(313)的所述目標(biāo)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述目標(biāo)是與所述轉(zhuǎn)子一體的。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中，所述目標(biāo)的轉(zhuǎn)速等于所述轉(zhuǎn)子的轉(zhuǎn)速。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述目標(biāo)連接到所述轉(zhuǎn)子。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中，所述目標(biāo)的轉(zhuǎn)速與所述轉(zhuǎn)子的所述轉(zhuǎn)速成比例。

11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述陣列中的所述周期的所述預(yù)選數(shù)目大于或等于N乘以a，其中N為所述目標(biāo)上的所述多個(gè)特征的數(shù)目，且a為對(duì)于所述平均周期考慮的所述目標(biāo)的回轉(zhuǎn)數(shù)。

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中，所述平均周期包括對(duì)N乘以a的積的數(shù)目的來(lái)自所述陣列的所述周期求和，然后由N乘以a的積來(lái)除。

13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，還包括利用轉(zhuǎn)子計(jì)算機(jī)來(lái)確定所述平均周期。

14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，還包括通過(guò)所述轉(zhuǎn)子計(jì)算機(jī)利用所述平均周期來(lái)計(jì)算以期望單位計(jì)的轉(zhuǎn)子速度。

15.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括連續(xù)地更新所述陣列。

16.一種測(cè)量轉(zhuǎn)子速度的方法，包括：

將傳感器(602)定位成與目標(biāo)相對(duì)，所述目標(biāo)包括多個(gè)特征，所述目標(biāo)的特征被所述傳感器所檢測(cè)，其中所述特征包括至少一個(gè)幾何瑕疵；

測(cè)量與經(jīng)過(guò)所述傳感器的所述目標(biāo)上的所述多個(gè)特征中的各個(gè)之間的時(shí)間對(duì)應(yīng)的周期(604)；

形成所述周期的陣列(620)，所述陣列包括直到預(yù)選數(shù)目的所述周期；

當(dāng)加入新的周期且達(dá)到所述預(yù)選數(shù)目的周期時(shí)，從所述陣列(606)除去老的周期；

從所述陣列中的所述周期的子集來(lái)計(jì)算平均周期(610)，所述平均周期對(duì)應(yīng)于一次完整回轉(zhuǎn)或多次完整回轉(zhuǎn)中的一者；和

從所述平均周期計(jì)算轉(zhuǎn)子的轉(zhuǎn)速(612)，以補(bǔ)償所述至少一個(gè)幾何瑕疵。