[發明專利]攝像模塊

在審

• 申請號: 201480053458.1
• 申請日: 2014-06-24
• 公開（公告）號: CN105593758A
• 公開（公告）日: 2016-05-18
• 發明（設計）人: 關本芳宏
• 申請（專利權）人: 夏普株式會社
• 主分類號: G03B5/00
• 分類號: G03B5/00;G02B7/04;H04N5/225;H04N5/232
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 龍淳;楊藝

1.一種攝像模塊，其特征在于，包括：

抖動校正固定部，該抖動校正固定部具有軸心與攝像透鏡的光軸 一致的攝像元件，在任何方向均不移位；

抖動校正可動部，該抖動校正可動部包括：在所述攝像透鏡的光 軸方向上不移位的自動聚焦固定部；和自動聚焦可動部，該自動聚焦 可動部具有所述攝像透鏡，并且通過自動聚焦用驅動部相對于所述自 動聚焦固定部在所述光軸方向上移位，該抖動校正可動部通過抖動校 正用驅動部相對于所述抖動校正固定部在與所述光軸垂直且彼此垂直 的2方向上移位；

自動聚焦移位檢測部，該自動聚焦移位檢測部檢測所述自動聚焦 可動部在所述光軸方向上的移位；和

抖動校正移位檢測部，該抖動校正移位檢測部檢測所述抖動校正 可動部在與所述光軸垂直且彼此垂直的2方向上的移位。

2.如權利要求1所述的攝像模塊，其特征在于，還包括：

控制所述自動聚焦用驅動部的驅動的自動聚焦用驅動控制部；和

控制所述抖動校正用驅動部的驅動的抖動校正用驅動控制部，

所述自動聚焦用驅動控制部通過基于來自所述自動聚焦移位檢測 部的檢測結果的反饋控制來控制所述自動聚焦用驅動部的驅動，

所述抖動校正用驅動控制部通過基于來自所述抖動校正移位檢測 部的檢測結果的反饋控制來控制所述抖動校正用驅動部的驅動。

3.如權利要求1或2所述的攝像模塊，其特征在于：

所述自動聚焦用驅動部具有至少一個用于對所述自動聚焦可動部 進行磁驅動的驅動用磁鐵，

在所述自動聚焦可動部和所述自動聚焦固定部中的一者，與所述 驅動用磁鐵隔開間隔地設置有自動聚焦移位檢測用磁鐵，

所述自動聚焦移位檢測部具有在所述自動聚焦可動部和所述自動 聚焦固定部中的另一者，與所述驅動用磁鐵隔開間隔且與所述自動聚 焦移位檢測用磁鐵相對地設置的磁通密度檢測元件，

所述磁通密度檢測元件根據所述自動聚焦移位檢測用磁鐵的磁通 密度的變化檢測所述自動聚焦可動部的光軸方向的移位。

4.如權利要求3所述的攝像模塊，其特征在于：

所述自動聚焦用驅動部具有多個所述驅動用磁鐵，

所述自動聚焦用驅動部配置在所述自動聚焦固定部，

所述磁通密度檢測元件或所述自動聚焦移位檢測用磁鐵設置在所 述多個驅動用磁鐵中相鄰的驅動用磁鐵之間。

5.如權利要求4所述的攝像模塊，其特征在于：

所述磁通密度檢測元件或所述自動聚焦移位檢測用磁鐵設置在所 述相鄰的驅動用磁鐵的中間線上。

6.如權利要求4或5所述的攝像模塊，其特征在于：

所述自動聚焦固定部為四邊形狀，

所述多個驅動用磁鐵沿所述自動聚焦固定部的各邊設置，

所述磁通密度檢測元件或所述自動聚焦移位檢測用磁鐵設置在所 述自動聚焦固定部的4個角部中的任一個角部。

7.如權利要求4或5所述的攝像模塊，其特征在于：

所述自動聚焦固定部為四邊形狀，

所述多個驅動用磁鐵設置在所述自動聚焦固定部的各角部，

所述磁通密度檢測元件或所述自動聚焦移位檢測用磁鐵設置在所 述自動聚焦固定部的4個邊中的任一個邊。

8.如權利要求1～7中任一項所述的攝像模塊，其特征在于：

所述抖動校正移位檢測部配置在所述抖動校正固定部，

所述自動聚焦移位檢測部配置在所述自動聚焦固定部。