[發明專利]用于分析多相流體的系統和方法

在審

• 申請號: 201480052792.5
• 申請日: 2014-07-25
• 公開（公告）號: CN105556304A
• 公開（公告）日: 2016-05-04
• 發明（設計）人: S.麥蒂;S.K.馬哈利克;V.蒂拉克;G.H.梅森;N.G.哈里斯;S.J.伊頓
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: G01N33/28
• 分類號: G01N33/28;G01N21/43;G01N21/85
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 葉曉勇;張懿

1.一種裝置，包括：

電磁引導裝置，用于提供電磁輻射；

反射器，反射所述電磁輻射的一部分，以生成所述電磁輻射的反射部分，其中所述反射 器完全浸入多相流體中；以及

處理子系統，基于所述電磁輻射的所述反射部分的至少一部分來分析所述多相流體，

其中所述電磁引導裝置的主光軸與所述反射器的主光軸基本上對齊。

2.如權利要求1所述的裝置，其中，所述電磁引導裝置的一端與所述反射器的底直接物 理接觸。

3.如權利要求1所述的裝置，其中，所述電磁引導裝置的一部分由一個或多個管子來覆 蓋，以及所述電磁引導裝置沒有與所述多相流體直接物理接觸。

4.如權利要求1所述的裝置，還包括生成所述電磁輻射的波源，其中所述波源是相干源 或者非相干源。

5.如權利要求4所述的裝置，其中，所述電磁引導裝置包括耦合到主耦合裝置的第一電 磁引導裝置和第二電磁引導裝置，其中所述第一電磁引導裝置的一端與所述反射器直接物 理接觸，以及所述第二電磁引導裝置的一端耦合到所述波源。

6.如權利要求5所述的裝置，其中，所述主耦合裝置：

通過所述第二電磁引導裝置從所述波源接收所述電磁輻射；

將所述電磁輻射分為第一電磁輻射部分和第二電磁輻射部分；

通過所述第一電磁引導裝置來定向所述第一電磁輻射部分，以照射浸入所述多相流體 中的所述反射器；以及

通過第三電磁引導裝置將所述第二電磁輻射部分定向到至少一個檢測器。

7.如權利要求6所述的裝置，其中，所述反射器反射所述第一電磁輻射部分的至少一部 分，以生成所述第一電磁輻射部分的反射部分。

8.如權利要求7所述的裝置，其中，所述第一電磁輻射部分的所述反射部分包括所述第 一電磁輻射部分的0%一直到所述第一電磁輻射部分的大約80%的范圍。

9.如權利要求5所述的裝置，其中，所述主耦合裝置包括耦合器和循環器中的至少一 個。

10.如權利要求7所述的裝置，其中，所述主耦合裝置：

將所述第一電磁輻射部分的所述反射部分分為第一分割反射部分和第二分割反射部 分；以及

將所述第一分割反射部分朝檢測器定向到。

11.如權利要求10所述的裝置，其中，所述處理子系統還基于所述第一分割反射部分和 所述第二電磁輻射部分來確定所述多相流體中感興趣流體的濃度、天然氣-液相分數或者 其組合。

12.如權利要求10所述的裝置，還包括耦合到所述第三電磁引導裝置的一端的所述檢 測器，其中所述檢測器：

將所述第一分割反射部分轉換成反射電信號，所述反射電信號表示所述第一分割反射 部分的強度；

將所述第二電磁輻射部分轉換成參考電信號，所述反射電信號表示所述第二電磁輻射 部分的強度；以及

向所述處理子系統傳送所述反射電信號和所述參考電信號。

13.如權利要求12所述的裝置，其中，所述處理子系統基于所述反射電信號和所述參考 電信號來分析所述多相流體。

14.如權利要求11所述的裝置，其中，所述反射器的折射率與所述感興趣流體的折射率 相比更大、更低或者是相同的。

15.如權利要求1所述的裝置，其中，所述多相流體包括氣、水、石油、天然氣或其他碳氫 化合物或者其組合。