[發明專利]用于軸向分段正電子發射斷層造影數據的方法和系統有效
| 申請號: | 201480051810.8 | 申請日: | 2014-07-10 |
| 公開(公告)號: | CN105792754B | 公開(公告)日: | 2020-01-21 |
| 發明(設計)人: | C·斯蒂爾恩斯 | 申請(專利權)人: | 通用電氣公司 |
| 主分類號: | A61B6/03 | 分類號: | A61B6/03;A61B6/00;G06T11/00 |
| 代理公司: | 72001 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 鄭浩;姜甜 |
| 地址: | 美國*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 軸向 分段 正電子 發射 斷層 造影 數據 方法 系統 | ||
1.一種用于生成正電子發射斷層造影(PET)圖像的方法,所述方法包括:
限定沿PET成像系統的檢查軸具有預定長度的掃描窗,所述掃描窗對應于將由所述PET成像系統連續掃描的感興趣區域;
限定對應于所述掃描窗內的至少兩個單獨掃描區域的至少兩個數據箱;
限定重疊所述兩個單獨掃描區域中的每一個的一部分的過渡區域,所述過渡區域具有比所述掃描窗的長度短的寬度;
將所述過渡區域內采集的發射數據裝箱至所述兩個數據箱中;
將從所述過渡區域外側采集的發射數據裝箱至所述兩個數據箱的一個中,以及
使用所述兩個數據箱中的所述發射數據重建圖像。
2.如權利要求1所述的方法,還包括使用第一箱內的所述發射數據重建所述圖像而并行地將發射數據裝箱至第二不同的箱中。
3.如權利要求1所述的方法,其中所述過渡區域從左到右包含第一側、中點和第二側,所述方法還包括:
將在所述過渡區域的左方所采集的所述發射數據裝箱至第一數據箱中;以及
將在所述過渡區域的所述第一側和所述中點之間所采集的所述發射數據裝箱至所述第一數據箱和將在所述過渡區域的所述第一側和所述中點之間所采集的所述發射數據的至少一部分裝箱至第二數據箱中。
4.如權利要求3所述的方法,還包括從所述過渡區域的所述第一側至所述中點逐漸增加裝箱至所述第二數據箱中的發射數據的數量。
5.如權利要求1所述的方法,其中所述過渡區域從左到右包含第一側、中點和第二側,所述方法還包括:
將在所述過渡區域的右方所采集的所述發射數據裝箱至第二數據箱中;以及
將在所述過渡區域的所述中點和所述第二側之間所采集的所述發射數據的至少一部分裝箱至第一數據箱和將在所述過渡區域的所述中點和所述第二側之間所采集的所述發射數據裝箱至所述第二數據箱中。
6.如權利要求5所述的方法,還包括從所述過渡區域的所述中點至所述第二側逐漸減少裝箱至所述第一數據箱中的發射數據的數量。
7.如權利要求1所述的方法,其中所述過渡區域從左到右包含第一過渡子區和第二過渡子區,所述方法還包括:
將在所述過渡區域的左方所采集的所述發射數據裝箱至第一數據箱中;
將在所述過渡區域的右方所采集的所述發射數據裝箱至第二數據箱中;
將在所述第一過渡子區中所采集的所述發射數據裝箱至所述第一數據箱中和將在所述第一過渡子區中所采集的所述發射數據的至少一部分裝箱至第二數據箱中;以及
將在所述第二過渡子區中所采集的所述發射數據的一部分裝箱至所述第一數據箱中和將在所述第二過渡子區中所采集的所述發射數據裝箱至第二數據箱中。
8.如權利要求1所述的方法,其中所述過渡區域具有大約兩倍于從所述感興趣區域采集數據的檢測器的軸向視野的寬度。
9.一種正電子發射斷層造影(PET)成像系統,包括:
檢測器;和
耦合至所述檢測器的處理器,所述處理器編程以
接收限定沿PET成像系統的檢查軸具有預定長度的掃描窗的輸入,所述掃描窗對應于將由所述PET成像系統連續掃描的感興趣區域;
限定對應于所述掃描窗內至少兩個單獨掃描區域的至少兩個數據箱;
限定重疊所述掃描窗內的所述單獨掃描區域中的每一個的一部分的過渡區域,所述過渡區域具有比所述掃描窗的長度短的寬度;
將所述過渡區域內采集的發射數據裝箱至所述兩個數據箱中;
將從所述過渡區域外側采集的發射數據裝箱至所述兩個數據箱中的一個中,以及
使用所述兩個數據箱中的所述發射數據重建圖像。
10.如權利要求9所述的正電子發射斷層造影(PET)成像系統,其中所述處理器還被編程以使用第一箱內的所述發射數據重建所述圖像而并行地將發射數據裝箱至第二不同的箱中。
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