[發明專利]用于確定測量顆粒的電荷的方法和設備

有效

• 申請號: 201480048308.1
• 申請日: 2014-09-03
• 公開（公告）號: CN105705934B
• 公開（公告）日: 2019-01-08
• 發明（設計）人: 本杰明·馬克·格羅索普;羅伯特·沃格;伊娃·韋瑟羅爾;馬丁·大衛·瓊斯
• 申請（專利權）人: IZON科技有限公司
• 主分類號: G01N15/12
• 分類號: G01N15/12;G01N15/00;G01R29/24;G01N15/10;G01N33/487
• 代理公司: 北京市百倫律師事務所 11433
• 代理人: 周紅力;陳少麗

1.一種確定至少一個測試顆粒的電荷的方法，特征在于，其包括：

在連接兩個腔室的孔徑上施加電流或電壓的其中之一，從而使得所述腔室至少部分地填充有電解液，并且使得所述至少一個測試顆粒懸浮在至少其中一個腔室的電解液中；

測量表明孔徑上的電流或電壓當中的另一項的數值；

確定第一和第二時間點之間的時間間隔，第二時間點對應于所測量的電流或電壓達到在第一時間點測量的電流或電壓的特定比例時的時間點；以及

通過以下步驟確定所述至少一個測試顆粒的電荷：

確定表明具有已知電荷的至少一個校準顆粒的總速度的電速度分量的數值，其中考慮到所述至少一個校準顆粒的總速度包括非零對流速度分量和電速度分量；

確定表明所述至少一個測試顆粒的總速度的電速度分量的數值，其中考慮到所述至少一個測試顆粒的總速度包括非零對流速度分量和電速度分量；以及

利用表明測試顆粒和校準顆粒的電速度分量的所確定的數值來校準所述至少一個測試顆粒的電荷與所確定的時間間隔之間的量化關系。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，確定表明所述至少一個校準顆粒的總速度的電速度分量的數值包括確定表明所述至少一個校準顆粒的總速度的數值以及表明所述至少一個校準顆粒的對流速度分量的數值，以及從表明總速度的數值中減去表明對流速度分量的數值。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，表明所述至少一個校準顆粒的電速度分量的數值和表明總速度的對流速度分量的數值是獨立于彼此確定的。

4.根據權利要求2所述的方法，其還包括確定對應于所述至少一個校準顆粒的另一個時間間隔，其中所述另一個時間間隔是第三和第四時間點之間的時間間隔，第四時間點對應于所述至少一個校準顆粒的所測量的電流或電壓達到在第三時間點測量的電流或電壓的特定比例時的時間點。

5.根據權利要求4所述的方法，其中，確定表明所述至少一個校準顆粒的總速度的電速度分量的數值包括在多個所施加的電壓下確定所述另一個時間間隔，以及，可選地，

還包括基于以下各項確定表明所述至少一個校準顆粒的電速度分量的數值：

不同的所施加的電壓；以及

不同的所施加的電壓下的不同的另一個時間間隔或者從中導出的數值。

6.根據權利要求5所述的方法，其還包括確定被擬合到所述另一個時間間隔的倒數與所施加的電壓的關系曲線圖的曲線的斜率，所述斜率表明對應于所述至少一個校準顆粒的每單位電壓的電速度分量。

7.根據權利要求4所述的方法，其中，確定表明所述至少一個校準顆粒的對流速度分量的數值包括在多個所施加的電壓下測量所述另一個時間間隔；以及，可選地，

基于以下各項使用外插：

不同的所施加的電壓；以及

不同的所施加的電壓下的另一個時間間隔或者從中導出的數值；以及，可選地，

繪制所述另一個時間間隔的倒數與所施加的電壓的關系的曲線圖，并且把由所述曲線圖定義的一條線外插到電壓等于零的一點。

8.根據權利要求4所述的方法，其中，確定表明所述至少一個校準顆粒的對流速度分量的數值包括在多個所施加的壓力數值下測量所述另一個時間間隔，其中所施加的壓力是外部施加到所述兩個腔室當中的至少一個的壓力，以便改變或者建立所述孔徑上的壓力差。