[發明專利]制備疏水或超疏水表面形貌的方法在審
| 申請號: | 201480045904.4 | 申請日: | 2014-05-20 |
| 公開(公告)號: | CN105593029A | 公開(公告)日: | 2016-05-18 |
| 發明(設計)人: | O·埃斯佩 | 申請(專利權)人: | 許克萊茵有限公司 |
| 主分類號: | B44B5/02 | 分類號: | B44B5/02;B44C1/22;B44C5/04;B44F9/00;B30B5/04 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038 | 代理人: | 陳晰 |
| 地址: | 德國*** | 國省代碼: | 德國;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 制備 疏水 表面 形貌 方法 | ||
1.在壓板(1)、環形帶或壓印軋輥形式的壓制工具的平坦或結 構化的表面上制備疏水或超疏水表面形貌的方法,所述壓制工具用于 制備材料板、塑料膜、分離膜、PVC表面和LVT(豪華乙烯基瓷磚), 所述方法包括如下步驟:
-準備具有微結構的表面模型,
-用樹脂對表面進行印模,
-用3D顯微鏡掃描模制的表面,
-將來自具有深度測量的掃描方法的數字化數據轉換成灰度位 圖,
-使用灰度位圖控制研磨表面處理的加工過程或施加用于化學加 工壓制工具的掩膜從而制備表面形貌。
2.根據權利要求1所述的方法,
其特征在于,
在數字化印刷方法之后使用灰度位圖施加掩膜用于進一步的表面 處理。
3.根據權利要求1或2所述的方法,
其特征在于,
在施加掩膜之后對壓制工具的表面進行化學加工,其中蝕刻過程 的時間由確定的表面模型的深度決定。
4.根據權利要求1、2或3所述的方法,
其特征在于,
壓制工具的表面至少局部地,優選全面地設置耐蝕刻的保護層, 然后借助于通過灰度位圖控制的激光局部地除去保護層。
5.根據權利要求1至4所述的方法,
其特征在于,
借助激光使壓制工具的金屬表面僅在保護層的厚度上出露。
6.根據權利要求1至5所述的方法,
其特征在于,
為了微結構化,以幾乎圓或圓形的燒掉區域的形式局部地除去保 護層,和/或燒掉區域彼此隔開,在周邊區域接觸或者局部重疊地設置。
7.根據權利要求4、5或6任一項所述的方法,
其特征在于,
以一定程度除去保護層從而通過蝕刻過程制備微結構化的表面, 其中蝕刻過程的時間由確定的表面模型的深度決定。
8.根據權利要求1所述的方法,
其特征在于,
對壓制工具的表面進行研磨加工,其中研磨工具例如水射流的停 留時間,或激光射線的停留時間、聚焦和/或強度由灰度位圖和確定的 表面模型的深度決定。
9.根據權利要求1至8任一項所述的方法,
其特征在于,
通過電解拋光或機械拋光進行之后的表面加工,和/或進行表面形 貌的全面和/或局部的硬質鍍鉻(9)作為之后的表面處理,和/或進行 全面或局部的光澤度調節作為之后的表面處理。
10.根據權利要求1所述的方法,
其特征在于,
使用環氧樹脂或硅樹脂進行模制。
11.使用根據權利要求1至10任一項所述的方法的裝置(20、40), 包括用于壓制工具的托架設備(26)并且使用灰度位圖進行表面加工, 其中為了控制掩膜的施加或結構化設備,設定灰度位圖和表面模型的 深度,其中加工頭(25、46)在X坐標和Y坐標的方向上在延伸平面 內移動,或者在固定的加工頭(25、46)的情況下,托架設備(26) 在X方向和Y方向上可移動,并且在壓制工具的表面(2)的研磨加 工時,研磨工具例如水射流的停留時間,或激光射線的停留時間、聚 焦和/或強度由灰度位圖和通過3D顯微鏡獲取的深度決定,或者局部 除去全面施加的保護層并且蝕刻時間由3D顯微鏡確定的深度決定。
12.根據權利要求1至10所述的方法制備的壓板(1)、環形帶 或圓柱形壓印軋輥作為壓制工具的用途,所述壓制工具用于壓制和/ 或壓印具有深度為至多500μm的平坦或逼真結構化的表面的材料板、 塑料膜、分離膜、PVC表面和LVT(豪華乙烯基瓷磚),其中通過 經模制的3D表面模型的灰度位圖的預定的數字化數據和借助3D顯微 鏡獲取的深度在平坦或結構化的表面上制備疏水或超疏水的表面形 貌。
13.使用根據權利要求1至10的方法制備的壓制工具同時使用根 據權利要求11或12所述的裝置(20、40)制備的材料板,所述材料 板具有疏水或超疏水的表面形貌。
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